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IC技术分析
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2015-07-01 先进纳米IC设计面临新的寄生电路提取挑战
晶圆代工工艺技术的更新换代使IC设计密度、性能和节能特性得以不断提高,但也为设计人员带来了更多挑战。FinFET晶体管等创新的新工艺特性要求大幅度提高寄生参数提取精度,以通过仿真和分析来验证实体设计的性能。本文将会介绍新的寄生电路提取挑战,并探讨工具技术是如何不断发展以满足新要求的。
2014-09-17 纳米级工艺时代,IC设计分析需有更先进的设计工具
随着芯片工艺的向下发展,芯片设计师的设计难度不断增加,难以获取到先进的设计工具和设计方法技巧。芯愿景是一家做集成电路技术分析的公司,能够为客户提供分析先进IC的设计工具和技术分析服务。在IIC-China 2014展会上,笔者走访了该公司。
2014-07-15 结合IC设计和通用MCU实现同步Boost移动电源
通过分析移动电源的技术规格和市场需求,得出同步Boost是必然趋势,然后分析专用MCU实现的同步Boost方案,提出ASIC+通用MCU的实现方案,用Candence设计ASIC并得出仿真结果,分析其效率和成本竞争力,给出经验证的MCU选型和软件流程。
2011-02-21 (多图) 基于门控时钟的低功耗电路实现方案
研究了门控时钟技术在130 nm工艺、基于高阈值标准单元库下的低功耗物理实现方法。详细阐述了多级门控时钟技术的作用机制和参数的设置方法,给出了基于门控时钟的后端实现流程,着重分析了插入门控时钟对时钟偏移的影响并提出解决方案。在中芯国际130 nm工艺下用synop sys公司的DC,IC Compiler,PT,VCS等工具完成物理实现。在10 M时钟下,总功耗降低22. 6%,面积也有所减小。
2010-12-31 IC设计中Accellera先进库格式语言与EDA工具的结合应用
先进库格式(ALF) 是一种提供了库元件、技术规则和互连模型的建模语言,不同抽象等级的ALF模型能被EDA同时用于IC规划、原型制作、实现、分析、优化和验证等应用中。本文在介绍ALF概念的基础上,详细讨论了使用ALF时库元件与IC的设计流程,同时还介绍了IC分层实现与原型制作的方法。
2010-04-09 GPRS/RFID技术在巡更系统中的应用
通过具体分析小区的物业管理特征,针对现有巡更机特点进行改进设计,提出了一种新式的在线式巡更管理系统,实现小区巡更信息采集的网络化、无线化。采用非接触式IC卡操作及信息获取简便,极大地提高了社区管理效能和办公工作效率。
2010-03-31 惠瑞捷IC测试 覆盖高中低领域
前不久,从事半导体测试业务的惠瑞捷公司由于在产品质量、产品性能、技术领先性、以及服务和对客户的承诺等方面的出色表现,首次荣获市场研究和分析公司VLSI Research颁发的五星级大奖。
2008-06-24 (多图) 基于MSP430F413的新型智能水表的设计
本论文以智能IC卡水表系统为研究对象,重点探讨了基于MSP430F413型超低功耗单片机在低功耗智能仪表上的应用与开发。论文首先提出利用IC技术智能水表系统的总体设计方案;设计了系统控制的硬件电路结构和研究了软件控制流程的实现,采用软硬件结合的方法,对系统的低功耗、抗干扰性设计及安全性问题作了一定的分析与研究。
2006-08-01 工具分析MTCMOS设计的漏电
Apache Design Solutions公司发布了其面向漏电管理的Red Hawk功率分析工具的一个新版本。在130nm节点上,当晶圆厂开始采用较薄的氧化物晶体管来改善设计性能时,晶体管漏电成为了一个问题。在90nm节点上,漏电情况变得更糟,而到了65nm节点时,在IC的总功率分配中,漏电(而不是器件运行时的有功功率)占用了一半以上。据Apache公司总裁兼首席执行官Andrew Yang称:设计师需要一种更加积极的降低漏电技术,而该工具正好满足了他们的愿望。他表示:半导体行业正在逼近CMOS工艺尺寸的极限,因而面临着功耗-性能或漏电-定时的两难选择。
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