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共搜索到48篇文章
2014-06-04 Aptina从美光科技收购CFA加工和探针成像资产
Aptina从美光科技收购CFA加工和探针成像资产,此项收购将为Aptina带来战略能力和世界级人才团队,加速周期时间,改善成本结构.
2012-05-03 简单二极管用作热探针的传感器
本例描述了一个用于电路问题诊断(如过热元件和热失控)的双晶体管热探针。虽然探针并不能提供精确的温度测量,但可以用探测二极管简单地试探某个可疑元件,从而对潜在的热问题做一次速检。
2011-12-20 意法半导体推出全球首款采用全非接触式测试技术晶圆
横跨多重电子应用领域、全球领先的半导体供应商意法半导体(STMicroelectronics,简称ST)宣布,全球首款未使用任何接触式探针完成裸片全部测试的半导体晶圆研制成功。意法半导体创新且先进的测试技术实现与晶圆电路阵列之间只使用电磁波作为唯一通信方式测试晶圆上的芯片,如RFID(射频识别)IC。这种测试方法拥有更高的良率、更短的测试时间以及更低的产品成本等潜在优势。此外,非接触式测试方法还可实现射频电路的测试环境接近实际应用环境。
2011-12-12 半导体参数测试的关键问题之一 探针的接触电阻
通常,参数测试系统将电流或电压输入被测器件(DUT),然后测量该器件对于此输入信号的响应。这些信号的路径为:从测试仪通过电缆束至测试头,再通过测试头至探针卡,然后通过探针至芯片上的焊点,到达被测器件,并最后沿原路径返回测试仪器。
2011-11-03 Mutitest Quad Tech针对最佳接触完整性而设计
面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最终测试分包商,设计和制造最终测试分选机、测试座和负载板的领先厂商Multitest公司,日前宣布其Quad Tech概念正是下一代的垂直接触技术。因其卓越测试良品率和超长探针寿命,从而具有显著测试成本优势。
2011-09-09 (多图) 一种V波段近距探测毫米波功率放大器设计
介绍了一种用于弹上近距探测系统,工作在非大气窗口波段的功率放大器,该功放基于MMIC实现电路设计,采用端口驻波较好的两路电桥,由多级级联实现功率合成,波导到微带采用两路微带探针经波导E面插入,完成波导立体传输线与微带集成传输线间的过渡转换,同时又实现同相宽带功率分配/合成。
2011-07-19 单片机应用电路板的故障诊断方法及实现
采用单片机仿真技术和程控自动探针测试技术进行了单片机应用电路板的在线测试及故障诊断的设计,结合实例探讨了其优势及不足。
2011-06-29 (多图) 基于单片机的静电探针自动测量系统
目前,随着等离子体在对金属、微电子、聚合物改性,聚合、生物功能材料相容性处理,低温杀毒以及空间技术等诸多领域的广泛应用。开展静电探针自动测量技术的研究开发工作,对提高等离子体应用研究工作的效率具有一定的促进作用。本文介绍的自动测量系统是以单片机为核心,采用A/D和D/A技术,能够快速、准确地给出静电探针I-V特性曲线。
2011-06-17 (多图) 基于单片机的静电探针自动测量系统
开展静电探针自动测量技术的研究开发工作,对提高等离子体应用研究工作的效率具有一定的促进作用。本文介绍的自动测量系统是以单片机为核心,采用A/D和D/A技术,能够快速、准确地给出静电探针I-V特性曲线。
2011-03-16 Multitest 的Mercury晶片级测试座被亚洲分包商成功采用
面向集成设备制造商(IDM)和最终测试分包商,设计和制造测试分选机、测试座、测试负载板的领先厂商Multitest公司,日前欣然宣布另一知名半导体制造商已经评估和通过其基于Mercury的晶片级测试座。这些Mercury测试座有8个测试位,每个测试位有25个以上弹簧探针
2011-03-07 ECT探针事业部将在2011年SEMCION China展示ZIP系列产品
除了ZIP产品系列,ECT探针事业部还将重点展示其已扩充的可用间距系列,中心距从0.8mm到0.2mm。ECT也将重点展出高性能Bantam产品——适于最苛刻测试应用的探针之选;适于更高相通兼容C-res标准的Mini-Mite;以及适于各种双端Pogo技术应用的CSP系列,该类产品可向下兼容许多同类测试探针
2010-07-27 Touchdown Technologies推出用于高级DRAM测试的全晶圆探针
Verigy全资子公司Touchdown Technologies推出了其 1Td300 全晶圆探卡,这是该公司首款用于高级 DRAM 存储器件单次触压、高容量测试的探卡。该产品能够对 300 mm或200 mm 晶圆进行高并行测试(highly parallel testing)。
2010-07-23 新型纳米级电接触电阻测量技术
一种新的测量技术能够将纳米材料的电气和机械特性表示为施加探针压力的函数,为人们揭示之前无法看到的纳米现象。这种纳米级电接触电阻测量工具能够在高度受控的负载或置换接触条件下实现现场的电气和机械特性测量。
2010-04-21 基于光纤传感器的油气水三相流持气率测井仪
针对油气水三相流的含气率的测量问题,本文设计了集流型光纤探针含气率测井仪器,对光纤探针测量含气率的可行性做了分析,并且设计了光纤传感器测量含气率的最优探头角度和驱动电路,实验表明此系统可有效测量汕气水三相流含气率。
2010-02-23 可实现更好信号完整性的12GHz差分晶圆探测解决方案
安捷伦科技公司日前宣布推出 12 GHz 差分晶圆探测解决方案。该细线探针是一个高保真度、宽带宽解决方案,允许研发和测试工程师使用示波器对高速有源集成电路进行调试和测试。
2009-06-24 人体疾病辅助诊治电子仪的设计
受中医针灸理论的启发,根据电子技术知识并结合中医理论,设计一种便携式身体“健康状况诊治”电路,并根据该电路原理制作一个简单的“健康状况诊治仪”。该诊治仪使用一个探针在身体相关穴位探测,通过相关穴位有“刺痛”感觉判断身体某器官是否存在病变,并能在“治疗”状态下进行辅助治疗。
2009-05-26 纳米级电接触电阻测量的新技术的研究
现在,一种新的测量技术能够将纳米材料的电气和机械特性表示为施加探针压力的函数,为人们揭示之前无法看到的纳米现象。这种纳米级电接触电阻测量工具能够在高度受控的负载或置换接触条件下实现现场的电气和机械特性测量。
2009-03-31 能同时测量纳米器件机械和电气特性的测试系统
研究纳米级材料的电气特性通常要综合使用探测和显微技术对感兴趣的点进行确定性测量。但是,必须考虑的一个额外因素是施加的探针压力对测试结果的影响,因为很多材料具有压力相关性,压力会引起材料的电气特征发生巨大的变化。现在,一种新的测量技术能够将纳米材料的电气和机械特性表示为施加探针压力的函数,为人们揭示之前无法看到的纳米现象。
2009-03-20 (多图) Microblaze与片内逻辑分析工具Chipscopepro
随着FPGA规模的不断增大,其封装形式大多向球形方式转移,这样使得传统的探针方式监测信号变得越来越困难。Chipscopepro是一种片内逻辑分析工具,它能通过JTAG口,将FPGA内部信号实时读出,传入计算机进行分析。
2009-03-18 精确测量电源纹波
精确地测量电源纹波本身就是一门艺术。在图 1 所示的示例中,一名初级工程师完全错误地使用了一台示波器。他的第一个错误是使用了一支带长接地引线的示波器探针;他的第二个错误是将探针形成的环路和接地引线均置于电源变压器和开关元件附近;他的最后一个错误是允许示波器探针和输出电容之间存在多余电感。
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