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2011-12-12 半导体参数测试的关键问题之一 探针的接触电阻
通常,参数测试系统将电流或电压输入被测器件(DUT),然后测量该器件对于此输入信号的响应。这些信号的路径为:从测试仪通过电缆束至测试头,再通过测试头至探针卡,然后通过探针至芯片上的焊点,到达被测器件,并最后沿原路径返回测试仪器。
2011-02-12 吉时利仪器提升S530参数测试系统的吞吐量和准确度
吉时利仪器公司日前宣布半导体行业最经济有效的全自动化生产参数测试方案——S530参数测试系统产品线在几个方面的性能提升。这些性能提升包括增加了吉时利新的高吞吐量开关主机用于高完整性的信号切换,探针卡上的完全开尔文测量提高低阻值准确度、新的硬件保护模块防止高灵敏度系统仪器受高电压影响,以及齐全的“探测”系统规范和诊断工具。
2009-04-28 存储制造商削减支出 晶圆测试探针卡市场收入大幅下滑
市场研究公司VLSI Research的报告指出,2008年全球经济衰退对用于晶圆测试的探针卡市场造成了严重的影响,2009年市场销售收入将进一步下滑。
2008-05-23 预计2008年晶圆探针卡销售收入达到14.1亿美元 较去年增长3.4%
据市场研究公司VLSI Research最新发表的研究报告称,半导体行业疲软使集成电路晶圆探针卡2007年的销售收入增长率降到了五年平均增长率(13.9%)的一半。这篇报告警告称,2008年内存集成电路市场厂商来说将是更困难的一年。2008年集成电路晶圆探针卡销售收入将达到14.1亿美元,比2007年的13.6亿美元增长3.4%。
2007-09-06 台湾晶圆探针卡测试产能吃紧 成为半导体生产链瓶颈
上游晶圆代工厂投片满载,整合组件制造厂又拉高晶圆测试委外代工比重,台湾四大晶圆测试厂福雷电、京元电、欣铨、台曜电等,
2007-08-01 吉时利授权FormFactor公司为探针卡供应商
美国吉时利仪器公司,日前宣布授权位于加利福尼亚利弗莫尔的FormFactor公司(Nasdaq: FORM)为吉时利半导体参数测试仪制造高性能参数测试探针卡。FormFactor公司所提供的探针卡将应用于吉时利S600系列参数测试仪,进行测量超低直流电流,以及对接触半导体晶圆的PIN脚进行标准直流参数测试。
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