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特征分析
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2015-06-01 IBM高层出动:详解物联网创新、车联网与中国智造
安立公司推出业内频率范围最宽,(从 70 kHz 到 110 GHz)的 4 端口宽频 VNA 系统.VectorStar ME7838A4 可提供最宽差分扫描、最佳稳定性和最快的测量速度,从而改进了其对差分组件的特征分析功能.
2015-05-29 安立推出业内频率范围最宽的4端口宽频VNA系统
安立公司推出业内频率范围最宽,(从 70 kHz 到 110 GHz)的 4 端口宽频 VNA 系统.VectorStar ME7838A4 可提供最宽差分扫描、最佳稳定性和最快的测量速度,从而改进了其对差分组件的特征分析功能.
2012-09-29 小型近红外光谱仪NIRQuest512-1.9
海洋光学推出了新款小型近红外光谱仪NIRQuest512-1.9。这款高分辨率近红外光谱仪NIRQuest512-1.9的响应范围可达1100-1900纳米,从粮食生产和化学处理的变化监测到为半导体装配和医疗进行激光特征分析,该光谱仪可应用于各种领域。
2011-05-11 咱的纳米有几 安(A)、伏(V)?(下)
在对纳米器件进行电流-电压(I-V)脉冲特征分析时通常需要测量非常小的电压或电流,因为其中需要分别加载很小的电流或电压去控制功耗或者减少焦耳热效应。这里,低电平测量技术不仅对于器件的I-V特征分析而且对于高电导率材料的电阻测量都非常重要。利于研究人员和电子行业测试工程师而言,这一功耗限制对当前的器件与材料以及今后器件的特征分析提出了巨大的挑战。
2011-04-01 (多图) 基于肤色模型的人脸检测研究
本文对基于肤色分割结合模板匹配的人脸检测方法进行了改进,提出基于“光照预处理+肤色模型+模板匹配”的人脸检测解决思路,即在光照预处理的前提下,利用肤色特征建立肤色模型;根据肤色模型进行肤色检测和阈值分割;在对分割区域特征分析的基础上,将筛选出的人脸候选区域与人脸模板相匹配;最后将匹配较好的区域在原图像中用矩形框标示出来。
2011-01-31 (多图) 光伏电池电气性能的评测
PV电池和材料的电气特征分析需要进行多种电气测量。这些测试工作可以在研发过程中在电池上进行,也可以作为电池制造工艺的组成部分。这些测试包括电流与电压关系(I-V)、电容与电压关系(C-V)、电容与频率关系(C-f)和脉冲I-V测试等。
2010-12-15 (多图) 基于SIMULINK的心电信号源系统设计分析
本文通过对心电信号的特征分析,提出了基于MATLAB/SIMULINK的心电信号仿真方法,采用快速原型技术通过输入/输出卡,将虚拟仿真信号转化生成实际的物理电信号,并与实际硬件电路连接起来,构成心电信号的半实物仿真模型。
2010-09-17 分辨率更高的新型近红外光谱仪
NIRQuest 512-2.2采用高稳定性、512像元的滨松 (Hamamatsu) 铟镓化砷 (InGaAs) 阵列探测器,集成二阶热电制冷和低电子噪声的小型光学平台。根据配置 -- 有六种光栅选项和五种尺寸入射狭缝可供选择--光学分辨率可达~0.5 nm-5.0 nm ( FWHM 全宽半高值),高的分辨率要求对激光特征分析是相当有用。
2010-08-13 (多图) 液压制动能量再生系统的电子控制系统设计
基于时间触发模式的混合调度器理论,设计了液压式制动能量再生系统(HBRS)的电子控制系统。建立功能模块模型,在对各功能模块的瞬时特征和互联特征分析的基础上划分了系统任务,并设计了调度器任务运行时序。最后通过仿真验证了调度器的正确性。
2010-02-24 单机实现三大基本特征分析功能的C-V测量系统
吉时利仪器公司宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块,进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。
2009-08-31 (多图) 一种新的晶圆级1/f噪声测量方法
本文提出了一种新的可靠的晶圆级1/f噪声测量方法和架构。所提出的测试架构采用了吉时利的一系列仪器,包括4200-SCS、428和一个低通滤波器。并且采用了吉时利的自动特征分析套件(ACS)软件来控制测量仪器的操作,采集/分析测得的数据。
2009-08-03 半导体C-V测量基础
电容-电压(C-V)测试广泛用于测量半导体参数,尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外,利用C-V测量还可以对其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析,包括双极结型晶体管(BJT)、JFET、III-V族化合物器件、光伏电池、MEMS器件、有机TFT显示器、光电二极管、碳纳米管(CNT)和多种其他半导体器件。
2009-07-29 (多图) 半导体C-V测量基础
电容-电压(C-V)测试广泛用于测量半导体参数,尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外,利用C-V测量还可以对其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析,包括双极结型晶体管(BJT)、JFET、III-V族化合物器件、光伏电池、MEMS器件、有机TFT显示器、光电二极管、碳纳米管(CNT)和多种其他半导体器件。
2009-04-09 吉时利4200-SCS升级版支持太阳能电池测试、和九槽机架结构
吉时利仪器公司宣布对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统进行全面的硬件、固件和软件升级
2009-04-08 吉时利4200-SCS升级版支持太阳能电池测试
吉时利仪器公司日前宣布对其4200-SCS半导体特征分析系统进行全面的硬件、固件和软件升级。吉时利测试环境交互式软件(KETI)V7.2版经过升级囊括九种新的太阳能电池测试库,扩展了系统电容-电压(C-V)测量功能的频率范围,支持该公司最新九槽4200-SCS仪器架构。
2008-12-05 吉时利发布高性价比元件测试解决方案
吉时利仪器公司针对元件测试应用推出特征分析和曲线绘制软件ACS基础版
2008-12-01 业界最快I-V特征分析功能数字源表仪器平台
在通信、半导体、计算机、汽车与医疗行业的元件与模块制造领域,源表仪器是产品特征分析及生产过程测试中极具实用价值的测试仪器。
2008-10-08 吉时利推出快速便捷I-V特征分析功能数字源表仪器平台
美国吉时利(Keithley)仪器公司日前发布最新推出2600A数字源表系列仪器。这类仪器具有无可比拟的易用性、出色的测量性能和灵活性,能够帮助用户加快产品的上市时间,降低测试成本,简化进行高性能测量过程。
2008-07-29 吉时利半导体特征分析系统扩展了C-V、I-V和脉冲式I-V特征分析功能
吉时利针对其的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI V7.1版。支持更高功率半导体器件的测试。
2008-04-22 全球3G商用现状及发展特征分析
当前在全球范围内,3G技术在发展中愈发成熟。3G技术主要有3大标准:即WCDMA、CDMA2000和TD-SCDMA。其中前两项标准已经投入商用。不少公司还在研究更为成熟的演进版本,希望让消费者享受到更好的3G新体验。
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说说TD-SCDMA的经验和教训

说说TD-SCDMA的经验和教训

2000亿元永远收不回的投资,换来一张五年就停止发展的TD-SCDMA网,而所谓自主知识产权比例饱受争议。蛮力改写科技产业路线,失败作结。[详细]


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