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2003-10-24 (多图) 无源光器件的偏振相关损耗测量
描述无源光器件的特性时，偏振相关损耗（PDL）现已成为一项标准指标。当前主要有两种PDL测量方法：偏振扫描法和四状态法，后者一般也被称作Mueller法。本文将对这两种测量方法进行简要的介绍，概要说明其主要难题和主要的误差来源，并对其在当前无源器件测量中的实际应用进行比较。
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