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失效分析
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2013-07-19 IC故障诊断及失效分析:发现事实避免臆测
IC失效分析要求快速而正确地做出响应。但是质量保证部是否可以测试所有条件下的每一个参数?根本不可能也来不及,大多数是猜测分析。及时有效的IC故障诊断的唯一可能性是从客户端得到关于IC失效的正确信息。
2013-01-16 纳瑞科技将展示多项IC失效分析新技术
致力于提供IC失效分析服务的纳瑞科技,将在IIC China 2013上展示:针对90纳米线宽以下多层铜布线芯片的修改工艺,针对模拟信号IC芯片的低阻值连接和针对长距离连线的低阻值连接,新型气体源FIB切割加工服务等多项新技术工艺。
2009-01-16 (多图) 电迁移导致的塑封IC失效
一个八脚小型晶体管封装的商业CMOS数字电位器IC在工作大约1个月后出现了场失效。系统失效分析结果证实了失效机制
2008-07-11 汉高联合高校开展电子材料及失效分析研究
由汉高公司和上海大学、上海交大和华东理工大学合作建立的“材料研究与失效分析(上海区)联合研究中心”日前成立,汉高在此合作中心的年投资额为150万元人民币,而大学将在合作过程中对实验室设备器材和人员上进行投入。
2007-09-28 电子元器件失效分析及解决技术与典型案例培训
本课程系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。主要讲授电子元器件失效分析的目的和意义、失效分析程序、失效分析技术以及失效分析主要仪器设备与工具及解决技术;案例按照元器件门类分为集成电路、微波器件、混合集成电路、分立器件、阻容元件、继电器和连接器、电真空器件、板极电路和其它器件,多个失效分析典型案例,突出介绍了该类器件的失效特点、主要失效模式及相关失效机理,提出了预防和控制使用失效发生的必要措施及解决技术。
2007-04-29 (多图) 高分辨率TDR测试以及应用
TDR(Time Domain Reflectometry)是一种通用的时域测试技术,广泛应用于PCB、电缆、连接器等领域。随着TDR设备性能的不断提高,对被测试器件不连续阻抗点的距离分辨率也越来越高。TDR逐渐进入IC芯片的失效分析(FA)以及电路模型提取领域。本文结合TDR设备的基本原理对高分辨率TDR设备及其应用进行了探讨。
2004-11-25 科利登GlobalScan-I 系统定位复杂设计和成品率问题
 科利登系统有限公司日前宣布:突出GlobalScan-I系统-用于器件物理分析和定位工艺性能成品率问题的新型集成电路诊断系统。GlobalScan-I能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失
2004-03-11 Optonics与Infrared Laboratories签署协议 独家经销其红外发射显微镜系统产品
科利登子公司Optonics日前发布了与Infrared Laboratories的战略市场协议。根据该协议中的条款,Optonics将成为Infrared Laboratories的红外发射显微镜系统产品的独家经销商。该协议使Optonics成为业界能够提供用于先进集成电路调试和失效分析最广泛的工具的供应商,包括静态和动态光子发射产品。
2004-02-26 香港科技园添置Optonics EmiScope-II系统
科利登子公司Optonics日前宣布香港科技园(HKSTP)已向Optonics 购入一部EmiScopea-II系统,用作设计调整及失效分析
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2000亿元永远收不回的投资,换来一张五年就停止发展的TD-SCDMA网,而所谓自主知识产权比例饱受争议。蛮力改写科技产业路线,失败作结。[详细]


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