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V-I特性
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2013-08-19 吉时利推出全球首款2450型触摸屏数字源表
吉时利推出全球首款2450型触摸屏数字源表,集I-V特性测试、曲线追踪仪和半导体分析仪的功能于一体的低成本数字源表.
2011-11-30 新型数字源表专为低电压测试而优化
吉时利仪器公司日前推出专为低电压测试而优化的低成本方案—2400系列数字源表。新推出的2401型数字源表与所有吉时利SMU(源测量单元)仪器一样,对光伏(太阳能)电池、高亮度LED(HBLED)、低压材料和半导体器件的电流与电压(I-V)特性分析以及电阻测量等高精度测试应用进行了优化。
2011-07-08 PCB电路板测试仪功能原理及应用特征
测试仪采用电路在线测试技术,可以用来在线或离线测试分析各种中小规模集成电路芯片的常见故障,测试模拟、数字器件的V/I特性
2009-08-21 高速、长寿命6×16矩阵卡扩展吉时利3700系列系统开关/万用表系列
吉时利仪器公司发布通过增加新的开关插卡3731型6×16高速磁簧继电器矩阵卡扩展其3700系列系统开关/万用表和插卡系列产品。3731具有优异的电压和电流特性(200V、1A开关或2A带载信号容量),是配合吉时利2600A数字源表进行多通道I-V测试的理想选择。
2009-04-17 (多图) 基于混合SET/MOSFET的比较器
基于双输入单电子晶体管与MOSFET 的混合结构I-V 特性和数字电路的逻辑设计思想,提出了一种由5 个双栅极SET 和6 个MOSFET 构成的一位比较器电路结构。该比较器有以下优点:利用双栅极SET和 MOSFET 构成逻辑块使电路结构大为简化;减少了管子的数目;电压兼容性好,驱动性能高;输入和输出高低电平都接近于1V 和0V;静态总功耗低,为nW 级。仿真结果验证了它的正确性。
2008-01-22 对使用新型测试技术和仪器的几点忠告
因此,传统的直流测试方法已经无法再为器件的性能和可靠性提供准确的模型。现在,从建模到制造整个过程都需要进行正确的RF和脉冲测试,包括确定栅介质可靠性、高频电容值、铜过孔可靠性和RF性能等测试。各种测试方法正在改变I-V特性、RF电容-电压测试、s参数、NBTI、TDDB、 HCI、SILC和电荷泵(CP)。
2007-10-24 吉时利集成最新C-V模块及软件4200-SCS系统实现更快速 简单和经济的C-V/I-V/脉冲测试
吉时利仪器公司,宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—— 4200-CVU。
2007-10-23 吉时利集成最新C-V模块及软件4200-SCS系统实现更快速 简单和经济的C-V/I-V/脉冲测试
吉时利仪器公司,宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—— 4200-CVU。
2006-04-03 新型数字源表具有更高的电压和电流测量能力
吉时利仪器公司日前推出??两款2600系列数字源表2611和2612。2611和2612在吉时利去年推出的数字源测量单元平台上,增加了更高的电压和电流测量能力,有效降低了大量电子元器件的测试成本。2611和2612具备的200V和10A的量程,使其成为功能测试、硅元素及复合半导体器件如FET、二极管、电压调节器、光电器件的I-V特性测试的理想选择。
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