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C-V测量
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2012-08-07 高准确度温度监视器提供可调报警信号
凌力尔特公司 (Linear Technology Corporation) 推出面向 2.25V 至 5.5V 系统的高准确度温度传感器 LTC2996。该器件以 ±1°C 的准确度测量远端二极管的温度,并以 ±2°C 的准确度测量其自身的芯片温度,同时抑制由噪声和串联电阻引起的误差。
2009-08-03 半导体C-V测量基础
电容-电压(C-V)测试广泛用于测量半导体参数,尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外,利用C-V测量还可以对其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析,包括双极结型晶体管(BJT)、JFET、III-V族化合物器件、光伏电池、MEMS器件、有机TFT显示器、光电二极管、碳纳米管(CNT)和多种其他半导体器件。
2009-07-29 (多图) 半导体C-V测量基础
电容-电压(C-V)测试广泛用于测量半导体参数,尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外,利用C-V测量还可以对其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析,包括双极结型晶体管(BJT)、JFET、III-V族化合物器件、光伏电池、MEMS器件、有机TFT显示器、光电二极管、碳纳米管(CNT)和多种其他半导体器件。
2009-04-08 吉时利4200-SCS升级版支持太阳能电池测试
吉时利仪器公司日前宣布对其4200-SCS半导体特征分析系统进行全面的硬件、固件和软件升级。吉时利测试环境交互式软件(KETI)V7.2版经过升级囊括九种新的太阳能电池测试库,扩展了系统电容-电压(C-V测量功能的频率范围,支持该公司最新九槽4200-SCS仪器架构。
2007-10-29 吉时利4200-SCS系统集成最新C-V模块及软件
吉时利仪器公司宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—— 4200-CVU。 4200-CVU能以测量模块的形式插入 4200-SCS的任意可用仪器插槽中,能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法(fF)和纳法(nF)级电容。
2007-10-24 吉时利集成最新C-V模块及软件4200-SCS系统实现更快速 简单和经济的C-V/I-V/脉冲测试
吉时利仪器公司,宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—— 4200-CVU。
2007-10-23 吉时利集成最新C-V模块及软件4200-SCS系统实现更快速 简单和经济的C-V/I-V/脉冲测试
吉时利仪器公司,宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—— 4200-CVU。
2005-12-05 具有板载10位ADC的48V热插拔控制器
凌特公司推出一款负高压热插拔控制器LTC4261。它具有一个板载10位ADC 和I2C兼容型接口,通过测量板卡电压和电流并记录过去和现在的故障条件来实现精细的功率监控。
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