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可重构检测
| 本专题为EDN China电子技术设计网的可重构检测专题，内容全部来自电子技术设计网精心选择与可重构检测相关的资讯。EDN China 是第一家关注中国电子设计领域的媒体。在过去的20年，针对中国设计经理人和工程师的不同需要，不断提供最先进和有深度的设计技术和应用。 |
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| 2013-03-21 | TI推出业界首款可重构DC电弧检测参考 德州仪器推出业界首款可重构DC电弧检测参考解决方案,RD-195 能可靠检测电弧故障,发出系统告警避免电弧放电引起火灾. |
| 2008-11-19 | 基于ARM和CPLD的可重构检测系统设计 本文提出了一种基于ARM嵌入式微处理器和复杂可编程逻辑器件( CPLD) 的检测系统硬件可重构设计方法。这种结构检测系统既具有ARM微控制器体积小、集成度高、运算速度快、存储器容量大、功耗低等特点; 又具有CPLD强大的高速逻辑处理能力和方便灵活的动态可重构性，将两者结合起来使用能克服传统检测仪器的不足, 可将许多复杂的实时控制算法硬件化，减轻了MCU的负担，减少逻辑控制芯片的使用, 具有可靠性强、可重用性好性价比高突出优点。 |
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