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存储器测试
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2014-06-24 高速存储器的调试和评估——不要仅仅停留在一致性测试
DDR 存储器测试项目涵盖了电气特性和时序关系,由JEDEC明确定义,JEDEC 规范并不涉及具体的测量方法,但提供了存储设备、DRAM应遵守的一组测试参数规范,目的是保证计算机系统、服务器和移动设备等存储系统的一致性与互操作性。
2014-03-03 全新比特误码率测试解决方案可迅速完成设计验证
随着数据中心流量的激增,服务器和存储器设计必须为背板和网络端口提供更高的带宽。大多数最新行业标准(例如100GbE、CEI和光纤通道)要求印刷电路板上的多个通道、电缆或光学互连具备高达25Gb/s及以上的数据速率。为测试这类25Gb/s接收机端口,需要借助新的测试功能来表征器件的干扰/通道损耗/串扰容限。
2012-07-06 灿芯半导体与Cadence合作推出DDR内存解决方案
灿芯半导体将流片系列测试芯片平台,包含存储器子系统IP,以此证明这种超低功耗、高性能解决方案是智能手机、平板电脑等移动设备和其他消费电子产品的理想之选。
2012-01-04 (多图) 解析:用于测试SDRAM控制器的PDMA
设计了一种用于测试SDRAM的可编程直接存储器存取控制模块(PDMA),把设计的PDMA作为IP软核,在基于PCI环境的RTL仿真平台上进行功能仿真、综合并将结果下载到PFGA上,建立基于 FPGA的测试平台进行硬件测试验证.结果表明,板上PDMA工作频率66MHz,达到快速访问的设计要求.PDMA仿真了多个IP与SDRAM的数据交换,并且建立在通用的PCI环境下.因此本设计方法和建立的仿真测试环境可用于不同的IP,是解决不同IP开发中十分重要的仿真测试方案,大大缩短了IP开发的测试和验证的时间,对于发展IP软核有重要意义.
2011-02-10 Altera首次为MoSys串行高密度带宽引擎器件提供接口
Altera公司日前宣布,公司成功完成了Stratix IV GT FPGA和MoSys的Bandwidth Engine器件在串行存储器应用中的互操作性测试。Stratix IV GT FPGA采用了GigaChip接口实现与MoSys带宽引擎器件的互操作性,为数据流量管理和数据包处理等100G固网应用设计人员提供了高性能、宽带存储器解决方案。
2011-01-28 (多图) 基于VS1003解码器的MP3播放器设计
以MSP430F149作为核心控制器,结合VS1003音频解码器,设计了一种带SD卡的MP3播放器,给出了MP3播放系统的软硬件设计。在硬件设计上,解码器与存储器分离,增加了存储容量;在软件设计上,使用条项菜单方式进行管理,可以方便地进行硬件或软件的升级。经过测试,该 MP3播放器播放效果较好。
2010-12-03 Ramtron串行1兆位F-RAM存储器荣获最佳产品奖
汽车电子委员会(AEC)集成电路应力测试资格(Automotive Electronic Council’s Stress Test Qualification for Integrated Circuits)确定了严格的汽车级资格认证。Ramtron公司专门针对汽车市场的苛刻要求,扩大了符合AEC-Q100要求的存储器阵容至15款产品。Grade-3资格认证可以确保器件工作在-40 ℃到+85℃的汽车温度范围内。
2010-09-28 晶圆级封装向大尺寸芯片发展
晶圆级封装(WLP)技术正在稳步向小芯片应用繁衍。对大尺寸芯片应用如DRAM和flash存储器而言,批量生产前景还不明朗,但理想的WLP可靠性高,且能高频运行,有望改变这种大尺寸芯片无法应用的现状。WLP一般拥有良好的功率集成特性、支持晶圆级测试、能适应芯片特征尺寸缩小,同时降低成本。
2010-08-20 (多图) DSP外部Flash存储器在线编程的软硬件设计
详细介绍DSP与Flash存储器的两种硬件接口方式及在线编程,分析了两种硬件接口方式下在线编程的区别,给出了相应的在线编程核心代码并在实际电路上测试通过,可作为DSP嵌入式系统设计的参考。
2010-07-27 M3G测试方案为高级内存提供低廉的测试成本
Verigy推出了全新的 HSM3G 高速存储器测试解决方案,进一步拓展了面向 DDR3世代主流存储器 IC 和更高级存储器件测试能力的 V93000 HSM 平台。V93000 HSM3G 独特的优势在于其未来的可升级性,能够为数据传输速度高达6.8 Gbps未来的三代 DDR 存储器提供价格低廉的测试服务,从而前所未有地长期节约经济成本。
2010-07-27 惠瑞捷在韩安装首款V93000 HSM6800测试
Verigy在韩国一家不具名客户的生产厂内安装并验证其首款可生产的V93000 HSM6800系统。这套新系统是唯一的一款面向当今 GDDR5超快存储集成电路 (IC)(运行速度超过每接脚4 Gbps)的快速高良率测试解决方案。与当今市场上的其它超高速存储器测试系统相比,它具有明显的产能优势。
2010-03-04 DDR3测试产能不足 DRAM封测厂加紧进设备
随著各家DRAM厂加快脚步转进DDR3,对后段厂而言,封装产能利用率处于高档,然测试、预烧等相关产能则呈不足现象,各家封测厂上演抢机台戏码,希望能够尽量提前让机台进驻厂区,随著工作天数恢复正常,存储器封测厂3月接单热络,预期单月营收应可处于历史高档水平。
2009-12-08 (多图) DDR存储器电气特性验证
在本应用文章中,我们将讨论针对存储器测试的解决方案,这个方案能够帮助工程师战胜挑战和简化验证过程。
2009-12-08 (多图) DDR存储器电气特性验证
拥有正确的工具和技术,可以减少测试时间,并确保最准确的测试结果。在本应用文章中,我们将讨论针对存储器测试的解决方案,这个方案能够帮助工程师战胜挑战和简化验证过程。
2009-10-13 Ramtron发布具射频功能之无线存储器MaxArias
Ramtron International Corporation日前宣布,现正向数个行业的客户提供首款MaxArias无线存储器产品的beta测试样品。
2009-09-25 (多图) FLASH存储器的测试方法研究
文本在简单介绍FLASH芯片的结构与特点之后,说明了FLASH存储器测试程序原理。在此基础上,分析和改进了几种通用的存储器测试方法,使之能有效地应用于FLASH测试中。这些方法简单高效,故障覆盖率高,并且可以快速预先产生,与其他一些测试算法[4][5]相比,更适于应用在测试仪中进行工程测试。
2009-08-31 技术创新:应对快速演进的数字设计和测量
安捷伦数字测量论坛(ADMF)大会中国站日前在京举行。ADMF 2009 的主要议题包括: 用于测试 HDMI、USB 3.0、PCI-E、DisplayPort 等标准的去嵌入(De-embedding)和均衡技术;触发和调试技术;DDRI/II/III 存储器测试技术和解决方案;探测技术和解决方案。
2009-08-12 单片机系统RAM的测试方法研究
为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。
2009-08-03 大容量闪存器件K9KAG08UOM与DSP的接口设计
惯性导航系统、各种导引头及空间飞行器等测试和记录应用系统,都需要自主、实时、可靠存储大量的关键信息,并保证即使整个系统掉电,所采集到的数据仍能长时间保持不丢失,实现历史数据查询,便于数据分析。NAND Flash闪速存储器(简称闪存)以其掉电非易失、功耗低、寿命长、容量大、升级容易等独有的特点迅速成为数据存储的最佳选择。
2009-07-03 DDR分析软件为DDR3存储器设计调试和检验提供测试解决方案
泰克为DPO/DSA70000B系列和DPO7000系列示波器推出第三代经过验证的DDR分析软件产品(DDRA选件)。泰克DDR测试解决方案支持DDR、DDR2、DDR3、LP-DDR和GDDR3的全部速度,同时覆盖了物理层和数字域。泰克公司还为DDR3存储器设计推出一套新的拥有Nexus Technology技术的球栅阵列(BGA)元件内插器(Interposers),改善了连接能力。
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