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集成测试系统
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共搜索到25篇文章
2014-09-19 R&S;广播电视测试系统BTC成功集成D-Book测试套件
2014年9月16日,慕尼黑/伦敦 — 通过与罗德与施瓦茨公司的合作,数字电视集团广播一致性测试实验室(DTG Testing)成功地测试了R&S; BTC和R&S; AVBrun D-Book测试套件。业界现在已具有由DTG Testing认证的极其紧凑的测试解决方案。
2013-08-20 R&S;推出高端广播电视测试系统R&S; BTC
罗德与施瓦茨公司广播电视测试系统R&S; BTC支持实时的端到端的测试,满足所有开放系统互连(OSI)要求。被测设备(DUT)也可以被集成到完全自动化的测试序列中。
2012-10-24 通过FPGA测试802.11ac WLAN和低耗电蓝牙技术
全新发布的针对802.11ac WLAN以及低耗电蓝牙(BLE)技术测试的NI解决方案集成了NI WLAN测量套件,基于FPGA的NI PXIe-5644R矢量信号收发仪(VST)以及NI LabVIEW,可以帮助搭建高性能、基于软件设计的测试系统
2012-08-15 B2900A在半导体激光器测试中的应用
相比传统的分立复杂的PIV测试系统,B2900A精密测量单元集成的PIV测试系统具有系统结构简单,操作方便,精度高,可靠性强,测量迅速等优势.
2011-12-13 明导公司发布行业首创系统热特性和热分析集成解决方案
明导公司发布行业首创热特性和仿真集成技术, 该技术基于明导公司的T3Ster 硬件测试产品和FloTHERM 软件. 明导公司的(Mentor Graphics) T3Ster 产品是世界领先的半导体设备封装和LED产品的先进热瞬态测试仪。明导公司的FloTHERM 产品目前电子热仿真和分析的标准,用来预测电子设备包括器件、板级以及整个系统的气流、温度和传热。T3Ster和FloTHERM之间独特的无缝集成能生成精确的热仿真模型。该热特性测试系统的独特性还在于,它是当今市场上,唯一一款符合JESD51-14 标准的系统。
2011-07-29 基于NI LabWindows/CVI, LabVIEW和PXI开发集成的航空电子测试系统
军用航空电子设备的生产需要经过一些特殊的步骤,如产品验收,项目认证以及对交付后的产品进行单元测试等。这些就需要设计和生产一些非常复杂的测试系统去模拟技术环境、检测被测器件。几乎所有的案例里,军用航空电子设备的I/O接口都有其专有的协议标准,需要特殊电子板卡进行通信,这也导致了大量的时间、金钱和资源的浪费。
2011-04-19 ADμC812在存储测试系统中的应用
ADμC812是美国ADI(Analog Devicelnc)公司生产的高性能单片机,是全集成的12位数据采集系统。它在芯片内集成了高性能的自校准多通道ADC(8通道12位高精度)、2个12位DAC以及可编程的8位MCU(与8051兼容)。
2011-04-01 (多图) 多总线融合式通用自动测试系统设计
为在一个测试系统上能满足更多的测试要求,避免资金浪费和重复性建设,基于PC/104主机设计了一种通用测试系统。该系统能融合多种总线,集成多种仪器,并考虑了网络化和构建大型分布式测试系统的需要,可根据实际需要灵活组配、构建自动测试系统。
2011-01-30 新型单片机ADC812在存储测试系统中应用
ADuC812是美国ADI(Analog Device Inc)公司生产的高性能单片机,是全集成的12位数据采集系统。它在芯片内集成了高性能的自校准多通道ADC(8通道12位高精度)、2个12位DAC以及可编程的8位MCU(与8051兼容)。
2009-10-19 基于FPGA的微型数字存储系统设计
针对航天测试系统的应用需求,提出一种基于FPGA的微型数字存储系统设计方案。该系统是在传统存储测试系统的基础上,利用可编程逻辑器件FPGA对传统存储测试系统进行单元电路的二次集成,使测试系统体积大幅减小,功耗急剧降低,从而提高系统的抗高过载性能,增加系统灵活性、通用性和可靠性。
2009-04-14 基于嵌入式计算机PC/104的某火箭弹自动测试仪应用
测试系统采用嵌入式计算机PC/104,PC/104与PC/AT体系结构完全兼容,大小只有90mmX96mm,但它几乎集成了普通台式PC机的所有功能,并与之兼容,因此在PC机上开发的程序可以直接在PC/104 CPU模块上运行,与单片机系统相比省去了专用的开发工具,而且维护方便。PC/104采用模块化设计,硬件电路设计简单,减少了开发周期。因此在本测试系统中我们采用嵌入式计算机PC/104。
2009-02-28 以软件为中心的测试新时代 Software-centric Trend in Test and Measurement Industry
测试系统的发展必须紧跟待测产品的发展。现在的实际情况是,为了在激烈竞争的市场上占据领先位置,工程师设计出来并且需要进行测试的产品在功能上愈加集成,产品越来越复杂。在最短的时间段内为产品增加新功能的压力下,设计工程师采用的方式是设计出以软件为中心的产品,这种方式的好处不单单是可以快速为产品增加新性能从而保持产品在市场上的竞争优势,而且更重要的是让用户可以尽情享受定制的使用感受。
2008-01-21 吉时利推出半导体测试与特征分析套件ACS V3.2版
吉时利(Keithley)仪器公司发布用于器件级、圆片级和晶匣级半导体测试与特征分析的自动特征分析套件ACS V3.2版。V3.2版新增更加强大的多点并行测试功能、面向管芯分拣应用成品分装功能、新圆片级打点功能,并以1fA电流测量分辨率支持吉时利最新2635和2636型系统数字源表,进一步增强ACS集成测试系统强大自动测试功能。
2007-07-04 艾法斯发布全套噪声误差特性集成测试系统
通过在仪器中增加 G.703接口Pod选项, 艾法斯FB100A误码率测试仪现在可以测试广泛范围内的标准化通信接口(从1.544Mbit/s的T1接口到155.52Mbit/s的STS-3以及 STM-1接口)。这种改进极大地增加了设备在 误码率和噪声误差特性测试功能的多样性。
2007-06-05 实现更快捷半导体测试的集成测试系统
Keithley发布ACS(Automated Characterization Suite)自动特征分析套件集成测试系统。该测试系统实现器件级、圆片级和黑盒级半导体特征分析工作。
2007-05-30 吉时利ACS集成测试系统助力半导体制造分析
测量需求解决方案企业美国 吉时利(Keithley)仪器公司,日前发布ACS(Automated Characterization Suite)自动特征分析套件集成测试系统。该测试系统实现器件级、圆片级和黑盒级半导体特征分析工作。ACS测试系统通过统一软件套件,提供更快测量速度和更大系统灵活性,以满足用户独特的测试应用需求。
2007-05-09 吉时利ACS集成测试系统助力半导体制造分析
测量需求解决方案企业美国吉时利(Keithley)仪器公司,日前发布ACS(Automated Characterization Suite)自动特征分析套件集成测试系统。该测试系统实现器件级、圆片级和黑盒级半导体特征分析工作。ACS测试系统通过统一软件套件,提供更快测量速度和更大系统灵活性,以满足用户独特的测试应用需求。
2007-05-09 自动特征分析套件集成测试系统
美国吉时利(Keithley)仪器公司日前发布ACS(Automated Characterization Suite)自动特征分析套件集成测试系统。该测试系统实现器件级、圆片级和黑盒级半导体特征分析工作。
2007-04-26 吉时利发布快捷、方便的集成测试系统
美国 吉时利(Keithley)仪器公司(NYSE代码:KEI), 日前发布ACS(Automated Characterization Suite)自动特征分析套件集成测试系统。该测试系统实现器件级、圆片级和黑盒级半导体特征分析工作。包括ACS集成测试系统在内,吉时利已在半导体特征分析领域成功建立整套高度可配置的灵活测试系统,并通过功能强大的自动化软件为用户提供无可比拟的测量性能。 ACS测试系统通过统一软件套件,提供更快测量速度和更大系统灵活性,以满足用户独特的测试应用需求。
2007-04-25 吉时利发布集成测试系统实现更快捷方便的半导体测试
Keithley发布ACS(Automated Characterization Suite)自动特征分析套件集成测试系统。该测试系统实现器件级、圆片级和黑盒级半导体特征分析工作。
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