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半导体组件测试
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2011-05-24 (多图) 吉时利产品新成员:2651A
大功率2651A型数字源表进一步丰富了2600A系列产品。该源表专门针对大功率电子器件的特性分析和测试而优化设计,可帮助用户在研发、可靠性及生产领域提高生产力,包括高亮度LED、功率半导体、DC/DC转换器、电池,以及其他大功率材料、元件、模块和组件的特性分析和测试。
2008-02-26 KEITHLEY推出ACS 3.2版自动特性分析套件软件
吉时利仪器宣布推出3.2版的ACS (Automated Characterization Suite) 软件,支持半导体组件测试,以及组件、晶圆、晶舟层级特性分析的功能。
2007-09-05 惠瑞捷V93000测试系统推出Port Scale 射频测试解决方案
惠瑞捷半导体科技有限公司的V93000 SoC测试机台推出Port Scale射频测试解决方案。这套新的解决方案可提供经济、有效又可靠的射频量测能力,是测试新式的高集成度组件以及低集成度射频收发器所不可或缺的工具。
2007-09-04 惠瑞捷V93000测试系统推出Port Scale 射频测试解决方案
惠瑞捷半导体科技有限公司的V93000 SoC测试机台推出Port Scale射频测试解决方案。这套新的解决方案可提供经济、有效又可靠的射频量测能力,是测试新式的高集成度组件,以及低集成度射频收发器所不可或缺的工具。
2007-07-25 Verigy宣布其V93000系统支持消费性电子组件测试
半导体测试公司惠瑞捷(Verigy)宣布其V93000测试系统推出消费性电子产品的混合信号测试解决方案,可针对各种高整合度的消费性电子产品组件,执行晶圆测试(Wafer Sort)及终程测试(Final Test)。
2007-07-18 Verigy宣布其V93000系统支持消费性电子组件测试
半导体测试公司惠瑞捷宣布其V93000测试系统推出消费性电子产品的混合信号测试解决方案,可针对各种高整合度的消费性电子产品组件,执行晶圆测试及终程测试。
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