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吉时利仪器提升S530参数测试系统的吞吐量和准确度

EDN China?? 2011年02月12日 ?? 收藏0

  吉时利仪器公司日前宣布半导体行业最经济有效的全自动化生产参数测试方案——S530参数测试系统产品线在几个方面的性能提升。这些性能提升包括增加了吉时利新的高吞吐量开关主机用于高完整性的信号切换,探针卡上的完全开尔文测量提高低阻值准确度、新的硬件保护模块防止高灵敏度系统仪器受高电压影响,以及齐全的“探测”系统规范和诊断工具。

  S530系统专门针对必须适应各种产品组合或者在宽应用灵活性和快速开发测试方案非常关键的生产参数测试环境进行了优化。S530测试仪采用成熟的源-测量技术和高保真度信号通路确保业界领先的测量准确度和可重复性。

  选择两种功能强大的参数测试配置

  提供两种不同配置的S530系统:低电流配置用于特性测量,例如亚阈值漏电、栅极漏电等;高电压配置用于GaN、SiC和Si LDMOS功率器件所需的较困难的故障和漏电测试。S530低电流系统(2~8 SMU通道)提供亚皮安测量分辨率和低电流防护一直到探针引脚。S530高压系统(3~7 SMU通道)带有源-测量单元(SMU),能输出1000V@20mA