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2013年EDN China测试测量研讨会成功举行

EDN China?? 2013年03月15日 ?? 收藏0
2013年3月1日,EDN China测试测量研讨会于深圳IIC China展会如期举行,展会吸引了三百名专业工程师到场参加,并结合自己在工作中遇到的测试测量问题,和演讲嘉宾进行了专业的互动。此次研讨会的演讲嘉宾也就目前测试测量所遇到的挑战、最新的测试测量技术以及测量仪器和软件进行了精彩演讲,为工程师带来了一种测试测量技术的盛宴。

R&S;:多域综合测试技术

随着目前电子设计中总线技术和RF与通信技术的大量应用,单一信号中包含地址、控制、数据和时钟;同一时间包括多种频率信号,信号之间存在互相干扰,并且与数字信号在时间上有一定关系。对于现代电子设计的调试也需要拥有时域和频域的综合分析能力,除进行普通的数字电路分析外,射频嵌入式系统还需要做时间上相互关联的时域和频域信号分析。另外,随着信号频率的增加,系统的EMI问题更加严重,也需要在设计和验证中特别关注。为了应对上述发展趋势,示波器的测试功能不断演进,技术发展也在朝综合测试的方向发展,需要对模拟信号、数字信号以及协议与总线信号进行测试,同时也能对频域和RF进行分析。

2013年EDN China测试测量研讨会成功举行
2013年EDN China测试测量研讨会成功举行

对于目前测试测量所面临的挑战,R&S;都能提供相对应的解决方案。对于模拟信号测试,由于复杂电子系统的故障多是偶出现概率极低,捕获低概率的异常信号是一个测试挑战。R&S;可以提供业内最高的波形捕获率,且不受测试功能影响。高波形捕获率可确保快速发现问题,缩短调试时间。对于数字信号的测试,模拟总线的显示是一大挑战。R&S;可提供业内独有的数字信号的模拟总线显示技术,可将多路逻辑信号转换为模拟波形显示,之后可将其与输入的信号比较,评估量化的噪声和ADC的线性度。

R&S;的RTO系统其还支持多种串行总线的触发和解码,如I2C、SPI、UART、CAN、LIN以及FlexRay等。对于频域的分析,目前所有的示波器都能提供FFT功能,但FFT分析存在诸多问题,如速度太慢,无法捕获瞬态问题;频率分辨率低;动态范围有限;无法和时域信号相关联以及无法使用频谱信号触发等。R&S;的示波器提供专用FPGA硬件完成FFT计算,并采用多重重叠FFT算法,捕获频率杂散信息,避免偶发频率时间的漏失等技术创新,可以提高频域分析的准确性。

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