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关于NCV70522在汽车自适应前照灯系统(AFS)应用中堵转检测的实现

卜仕锋?? 安森美半导体资深现场应用工程师?? 2013年01月18日 ?? 收藏0
简介

由于机械结构的限制,自适应前照灯系统(AFS)应用中,步进电机有时可能会堵转。一旦电机堵转,电子控制单元(ECU)将失去前照灯位置的跟踪信息并作出不恰当的反应,滋生极严重的安全问题,所以AFS应用中堵转检测是必不可少的。

通常可以通过电机的反电动势(BEMF)来判断电机堵转与否。BEMF因电机速度、负载及供电电压的不同而变化。传统的步进电机驱动芯片无BEMF输出,但包含内置堵转检测算法。客户仅可以在寄存器里设定固定的堵转认定临界值,这表示在真实道路条件下所有设定值都必须在工作之前“离线”预设,而不能适配真实工作条件。

安森美半导体的NCV70522微步步进电机驱动器透过SLA引脚提供BEMF输出,这表示它能实时进行停转检测计算,并根据不同条件来调节检测等级。

算法说明

由于线圈电流衰减期间的再循环电流相对较大,线圈电压Vcoil就展示出瞬态特性。由于应用软件中并不总是想要瞬态,就可以通过位的设定值来选择两种工作模式。在为高下,SLA引脚显示出完全可视的电压瞬态特性。如果位被清除,那么SLA引脚上仅可视每个线圈电流过零末端的电压样本。由于线圈电压的瞬态特性不再可视,这种模式产生更平常的BEMF输入,用于软件等的后续处理。

为了将采样的BEMF输出电平适应到(0 V至5 V)范围,采样的线圈电压Vcoil可选择被除以2或4。此设定通过SPI位来控制。下图显示了SLA引脚的工作,透明位“PWMsh”及“Icoil=0”是内部信号,与SLAT一起定义线圈电压的采样以及维持瞬间。

关于NCV70522在汽车自适应前照灯系统(AFS)应用中堵转检测的实现

此BEMF电压在每个所谓的“线圈电流过零”期间采样。每个线圈在每个电气周期内存在2个零电流位置,因而每个电气周期共有4个过零观察点,故可以测量4次BEMF。如果微步位置位于“线圈电流过零点”,BEMF电压将仅由电机驱动器采样。微步位置可以通过SPI接口来读取。

通过软件,我们可以基于测量的1个电气周期内的4次SLA值来灵活地判断是否堵转。

算法应用

NCV70522是一款微步步进电机驱动器,用于双极型步进电机。这芯片通过I/O引脚及SPI接口连接至外部微控制器。NCV70522输出电流有多种选择。它根据“NXT”输入引脚上的脉冲信号以及方向寄存器[DIRCTRL]或“DIR”输入引脚的状态来转动下一个微步。这器件提供从满步到32微步的细分、由SPI寄存器SM[2:0]来选择的7种步进模式。NCV70522包含SLA的输出,可以用于堵转检测算法及根据电机的BEMF来调节转矩和速度计算。典型应用电路图如图2所示。

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步进电机控制? 堵转检测? NCV70522? 自适应前照灯系统?

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