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第九届 “中国PXI技术和应用论坛” 成功主办 共庆PXI 15年

NI?? 2012年06月06日 ?? 收藏0
2012年6月——由美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)主办的第九届“中国PXI技术和应用论坛” (PXI Technology & Application Conference,即PXI TAC)于2012年5月29日在上海国际会议中心成功召开,超过500名工程师和技术人员到场参加。共有12家国内外知名PXI供应商和系统集成商, 10家行业内的知名媒体参加,是历届之最。

今年是PXI技术发展15周年。自从NI于1997年提出PXI标准以来,PXI技术以惊人的速度在测试和控制应用领域得到广泛接受,经过15年的发展已经成为主流的模块化仪器平台。自从1997年NI推出业界第一款PXI机箱开始,NI就一直是PXI技术的创新者和领导者,15 年来NI一如既往地追求卓越,不断在测试测量领域进行创新和持续投入。今天NI可以为客户提供超过500种的PXI产品,覆盖从直流到射频的量测领域。在这15年来,NI PXI技术和产品也获得了众多奖项,得到了业界的充分认可。

NI成功主办第九届 “中国PXI技术和应用论坛”

全天的活动围绕 15 周年为主题展开。主题演讲由 PXI 系统联盟市场委员会主席Matthew Friedman 和 NI 全球研发部副总裁 Robert Canik 分别从市场与行业的角度以及研发角度对 PXI 的历史、现状以及未来进行阐述,与听众分享 NI 在 PXI 技术发展的 15 年里所做出的贡献,NI中国的技术市场工程师介绍了 PXI 平台的最新发展和应用;最后,NI特邀嘉宾上海无线通信研究中心副主任、副总工程师杨旸博士与现场观众共同分享如何成功利用PXI平台在射频方面完成自己的测试测量应用。主题演讲之后,15周年展示区进行了PXI 15周年切蛋糕的庆祝活动,将整天的活动推向高潮。之后的全天活动中,NI和12家PXI厂商围绕自动化测试平台专题、行业应用专题和射频应用专题,20场技术讲座和精彩的动手课程,为观众打造了一个PXI最新技术与应用的交流盛宴。

随着基于PXI 的模块化射频仪器不断发展和成熟,今年的PXI TAC新增了射频应用专题与展示。NI的工程师为观众介绍了基于PXI的软件无线电平台在802.11ac、LTE物理层测试、雷达与电子战系统设计等方面的应用。

“本次大会最吸引我的地方是PXI这项新技术已经越来越普遍,有很多厂商参与这次活动,能够听取很多领域的技术讲座。此次PXI TAC2012举办的很成功,为参会者考虑了很多问题,为我们日后的工作提供了需要的服务和帮助。”--- 彭卫,中科院上海技术物理研究所

通过此次PXI TAC活动,可以看出越来越多的厂商和客户参与到 PXI 技术的开发和应用中。根据会议现场的调查结果显示,高达99%的用户对本届PXI TAC表示了肯定,认为此次活动对实际工作有很大的帮助。

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