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NI 发布《2012年自动化测试趋势展望》

2012年05月15日 ?? 收藏0

- 该趋势展望报告探讨了影响当前和未来的电子行业的最新商业策略、架构、计算、软件和I/O。

- 经过多年的自动化测试,NI从其商业关系、内部专业知识和第三方研究中吸取经验,并提出了行业内最新、最为全面的见解。

- 报告中着重介绍了新兴的移动设备如何改变行业架构,公司机构如何通过建立测试组织来奠定各自的战略优势。

  美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)近日发布《2012年自动化测试趋势展望》,其中分享了公司对最新测试测量技术和方法的研究发现。 该趋势报告详细介绍了影响众多行业的发展趋势,包括消费电子产品、汽车、半导体,航空航天与国防、医疗设备以及通讯。 工程师和管理人员可从中了解并采用优化测试组织的最新策略和最佳方式。

2012年趋势展望报告由5个类别组成: 商业战略、架构、计算、软件和I/O,并探讨了以下主要趋势:

- 测试组织的优化: 各个组织将测试工程视为战略资产,以在竞争中获得优势。

- 设计流程中的测量与仿真:将复杂模型与真实测量结合,提高产品质量,缩短开发时间。

- PCI Express外部接口: 高速、低延迟PC内部总线拥有新的系统拓扑结构,并增强了外部接口功能。

- 移动设备的迅速普及: “智能手机和平板电脑的普及”正改变着测试系统控制和监测的方式。

- 便携的测量算法:全新工具可实现一次开发测量IP,即可部署至多个不同的处理单元。

《2012年自动化测试趋势展望》的内容源于学术界和工业界的研究、用户论坛与调查、商业智能化和用户顾问委员会的反馈意见。 该报告以数据为基础,详细介绍了下一代技术趋势,以此应对测试测量领域的商业和技术挑战。

《自动化测试趋势展望》由NI测试行业领导委员会编写,NI创立该委员会,旨在促进全球不同行业内数千家客户分享反馈各自的最佳测试测量方法。 NI测试行业领导委员会以促进测试行业领导人之间的交流为目标,鼓励他们提出商业和技术的独到见解。 领导委员会的活动内容包括领导人会议、同行互通网络和技术交流。

《电子设计技术》网站版权所有,谢绝转载


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