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采用电波暗室测试电路的RF噪声抑制能力

2012年01月17日 ?? 收藏0
GSM手机的随处可见正导致不需要的RF信号的持续增加,如果电子电路没有足够的RF抑制能力,这些RF信号会导致电路产生的结果失真。为了确保电子电路可靠工作,对于电子电路RF抑制能力的测量已经成为产品设计必不可少的一个环节。本文介绍了一种通用的RF抑制能力测量技术-RF电波暗室测量装置,描述了它的组成和操作方式,并给出了实际测量结果的例子。

现在大多数蜂窝电话采用的无线技术是时分多址(TDMA),这种复用技术以217Hz的频率对高频载波进行通/断脉冲调制。容易受到RF干扰的IC会对该载波信号进行解调,再生出217Hz及其谐波成分的信号。由于这些频谱成分的绝大多数都落入音频范围,因此它们会产生不想要的听得见的“嗡嗡”声。由此可见,RF抑制能力较差的电路会对蜂窝电话的RF信号解调,并会产生不希望听到的低频噪音。为了测量产品的质量,测试时需要把电路放在RF环境中测量,该RF环境要与正常操作时电路遇到的环境相当。

本文描述了一种通用的集成电路RF噪声抑制能力测量技术。RF抑制能力测试将电路板置于可控制的RF信号电平下,该RF电平代表电路工作时可能受到的干扰强度。这样就产生了一个标准化、结构化的测试方法,使用这种方法能够得到在质量分析中可重复的有用结果。这样的测试结果有助于IC选型,从而获得最能够抵抗RF噪声的电路。

可以将被测件(DUT)靠近正在工作的蜂窝电话,以测试其RF敏感度,但是,为了得到一个精确的、具有可重复性的试验结果,需要采用一个固定的测量方法,在可重复的RF场内测试DUT。解决方案是采用RF测试电波暗室,提供一个可精确控制的RF场,其相当于典型移动电话所产生的RF场。

下面,我们对Maxim的一款双运放(MAX4232)和一款竞争产品(X)进行RF抑制能力比较测试。

图1:双运放的RF噪声抑制能力测量电路(online)
图1:双运放的RF噪声抑制能力测量电路(online)

RF抑制测试电路(图1)给出了连到待测双运放的电路板连接,每个运算放大器被配置成交流放大器,没有交流输入时,输出设置在1.5V直流电平(VCC = 3V)。反相输入通过1.5"环线(模拟输入端的PC引线)短路至地,该环路用来模拟实际引线的的效应,实际引线在工作频率下会作为天线,收集和解调RF信号。通过在输出端连接一个电压表,测量和量化运算放大器的RF噪声抑制能力。

图2:RF噪声抑制能力测量装置
图2:RF噪声抑制能力测量装置

Maxim的RF测试装置(图2)产生RF抑制能力测试所需的RF场,测试电波暗室具有一个屏蔽室,作用与法拉第腔的屏蔽室类似,它具有连接电源和输出监视器的端口。把下面列举的设备连接起来就可以组成测试装置:

1. 信号发生器:9kHz至3.3GHz(罗德与施瓦茨公司SML-03)

2. RF功率放大器(PA):800MHz至1GHz, 20W(OPHIR 5124)

3. 功率计:25MHz至1GHz(罗德与施瓦茨公司)

4. 平行线单元(电波暗室)

5. 场强检测仪

6. 计算机

7. 电压表


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脉冲调制? TDMA? IC?

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