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业内第一台PXI矢量网络分析仪介绍

NI公司?? 2010年09月09日 ?? 收藏0

  全新的PXIExpress(PXIe)RF仪器为您的自动化设计验证和生产测试系统增添矢量网络分析功能。

  NI公司在2002年推出其第一台RF矢量信号分析仪(VSA)之后,一直致力于为客户提供快速、灵活、精确的PXI仪器,而且其成本仅是传统箱型仪器的几分之一。现如今,NI的RF系列产品已经发展壮大,包括多通道RF信号发生器和分析仪、USB功率计、PXIRF调制模块,并开发了许多的软件工具包,用以支持不断增加的各种无线标准。

业内第一台PXIVNA

图1.业内第一台PXIVNA,6GHz的NIPXIe-5630

  今年,NI的PXIRF系列产品又增添了一个新成员,NIPXIe-5630矢量网络分析仪(VNA)。如图1所示,NIPXIe-5630是6GHz的双通道VNA,支持传输和反射(T/R)系数的矢量测量,也就是正向S参数S11和S21。全新的VNA具有10MHz到6GHz的频率范围,超过110dB的宽动态范围,不超过400μs/点(扫描3201个点)的扫描时间,是进行自动化设计验证和生产测试的理想工具。而且,NIPXIe-5630VNA的架构灵活,体积小巧,可以方便地添加到设计验证和生产线测试系统中,这是体积大、成本高的传统VNA所无法比拟的。PXI平台的优势,结合灵活的、经过多核处理优化的LabVIEWAPI,可以方便地实现多个RF元件的并行测试。

  描述RF元件特性需要特殊的仪器

  为了获得更高的无线数据传输速率,而且不增加功耗或占用频宽,就需要特别注意RF元件的设计、特性和终端测试。复杂的调制电路严重依赖于对RF信号振幅和相位细微变化的成功检测,这使得信号链中的每个元件从基频到RF都要满足严格的要求。

  VNA最常用的功能之一就是量化两个元件的阻抗不匹配。每次RF信号离开一个元件进入另一个元件时,信号的一部分都会被反射回来。就像你透过窗户往外看,大部分光透过窗户,使得外面的人可以看到你,但你也可以在窗户里看到自己的影像,这是因为光的一部分被反射了回来。在RF系统中,这种反射转换为能量损失,从而导致更高的功耗、不必要的热和失真。

  为了完整描述信号经过被测设备(DUT)的通路,必须对以下3个信号进行测量:入射信号、反射信号和传输信号。图2说明了VNA的基本设计,正是这种设计使得VNA可以进行精确的测量。信号发生器连接到DUT的端口1。定向耦合器使得接收机R只测量参考信号或入射信号,接收机A只测量反射信号,而接收机B则测量传输信号,从而实现常用的VNA测量,包括插入损耗、回波损耗、电压驻波比(VSWR)和群延迟。

VNA的特殊设计使高精度的RF测量成为可能

图2.VNA的特殊设计使高精度的RF测量成为可能

  选择合适的工具进行测量

  单一的RF仪器无法完整描述无线系统的特性。无线设备包括线性和非线性元件,只有知道每个元件的特性才能理解其对整个系统性能的影响。线性元件,或者工作在线性范围的元件,不会在RF信号中引入多余的频率成分。尽管线性元件会影响振幅和相位,但在其输入端引入的频率成分在输出时频率不变。典型的线性元件是滤波器和传输线。非线性元件则正相反,它会改变信号的频率特性。即使输入信号是单频的,经过非线性设备后,输出信号也可能包含谐波失真或其它畸变。常见的具有非线性特性的元件是功率放大器和混频器。

  矢量信号分析仪(VSA)和矢量信号发生器(VSG),比如NIPXIe-5663和NIPXIe-5673E,可以很好地实现非线性测量,比如计算放大器的1dB压缩点或找到混频器中无用谐波。然而,对于线性测量,比如滤波器的传输和反射系数,或者在指定的频率范围内精确描述相位和振幅特性,VNA则是更合适的选择,比如NIPXIe-5630。表1显示了进行常见的线性和非线性测量所推荐的PXIRF仪器。


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PXI? 矢量网络分析仪? VSA? RF元件?

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