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(多图) 2010年“Best in Test”最佳测试产品奖

2010年05月31日 ?? 收藏0
JDSU?? www.jdsu.com/test

  对于那些必须安装和维护Access/FTTx网络以及语音/数据/视频服务的现场服务技术人员而言,JDSU T-BERD/MTS-4000测试平台可满足他们的要求。模块化设计的T-BERD/MTS-4000可提供完整接入网络和语音/数据/视频服务测试。

  T-BERD/MTS-4000配备了具有触摸屏选项的7寸彩色显示器,使技术人员可以查看IPTV流、网页浏览器或复杂的测试结果,比如OTDR迹线或频谱分析。它的连接能力包括远程辅助、遥控、测试自动化和无线连接。


  计算机总线分析仪

PCIe Jammer在线误码注入工具

  PCIe Jammer在线误码注入工具
  Agilent Technologies?? www.agilent.com

  Agilent公司表示,PCIe Jammer使工程师能改善错误处理工作,并避免日后高成本的产品变更或召回。Jammer是透明的,即用户是在真实环境中执行测试。由于Jammer的透明性,因此它的设置既快速又容易:无须编写脚本,通过图形定序器驱动误码注入,并且

可以设定几乎任何可想象到的误码恢复测试案例。

  PCIe规范的可校正与不可校正误码也包含在内。Jammer可测试硬件、操作系统、驱动程序、软件及其相互作用,来确保可靠性能。而且,Jammer允许利用单一设置在所有操作系统中确认产品的有效性。


  数据采集

用于PCI Express与PXI Express的X系列

  用于PCI Express与PXI Express的X系列
  National Instruments? www.ni.com

  NI公司用于PCI Express和PXI Express的X系列数据采集产品,高性能模拟、数字以及计数器/计时器功能都集成在单一设备中。工程师可软件定义X系列设备的功能,使这些设备能足够灵活地应对多种应用,从基本的数据日志记录,一直到控制与测试自动化。

  X系列设备包含NI-STC3时序与同步技术以及NI设计的一种ASIC,后者提供4个灵活的32位计数器和一个用于所有模拟与数字时序的100 MHz时基信号。借助X系列设备,工程师们能更轻松地触发和同步各自的模拟和数字I/O,流式传输大量数据,并在多个CPU核心之间分配应用处理工作。


  DFT、边界扫描、仿真

  Juliet台式JTAG测试仪
  Goepel Electronic?? www.goepel.com

Juliet台式JTAG测试仪

  Juliet (JTAG UnLimItEd Tester)是独立台式JTAG/边界扫描测试仪,用于原型制造以及制造测试。它可执行边界扫描测试、闪存和PLD的系统内编程,以及功能仿真测试。这种模块化系统受到外部PC或笔记本电脑的控制,配备海量互连接口和可交换被测单元(UUT)适配器,由此能迅速配置系统,并轻松访问测试点。

  Juliet包含边界扫描控制器、模拟和数字I/O测试专用夹具电子部件、电源、条形码阅读器、USB和LAN接入、操作接口,以及对并行快速测试的支持。


  EMC和安全测试

  NSG 3040 EMC多功能发生器
  Teseq?? www.teseq.com

NSG 3040 EMC多功能发生器

  Teseq公司NSG 3040 EMC多功能发生器,可模拟电磁干扰的影响,按照国际、国家和制造商的标准(包括最新的IEC/EN标准)来完成抗扰度测试和达标测试。它还满足CE标签测试的传导EMC测试要求,此项测试一般包括突发测试、电涌测试和电力质量测试。

  借助7寸彩色触摸板显示器,用户可以通过屏幕上的键盘和拨盘迅速输入数据。可以轻松设定斜向升降功能,并且该仪器允许用户创建多步骤测试规程,并改变序列或参数值。

  该发生器提供Test Assistant和专家方式,前者可满足基本测试需要,后者则面向高级用户。


  光纤

N4391A光学调制分析仪

  N4391A光学调制分析仪
  Agilent Technologies?? www.agilent.com

  N4391A是一种基于时域的光学调制分析仪,提供调幅和调相光学信号的深入分析。N4391A提供多种分析工具,如解调信号的星座平面显示画面,以及误差与理想信号相比的误差矢量幅度分析显示画面。

  该仪器支持超过100 Gbps的传输速率,并支持DPSK和DQPSK(包括极化复用)。它提供大于37 GHz的光学接收器带宽(74 GHz光学)、精选的34种数字调制格式,以及精选的20种可定制数据分析工具。


  通用仪器(非示波器)

  EX1200系列开关/测量系统
  VTI Instru


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Best in Test? 半导体测试?

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