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惠瑞捷推出零空间占用的低成本测试系统V101

EDN China?? 2009年07月09日 ?? 收藏0

  日前,惠瑞捷半导体科技有限公司针对晶圆测试和时下对成本最为敏感的集成电路微控制器的成品测试推出了一款新型测试系统V101。V101满足了这些芯片的超低成本要求,以及缓解了日益增长的上市时间压力。

  V101测试系统将于2009年7月14日-16日在美国加利福尼亚州旧金山市莫斯克尼会议中心举行的SEMICON WEST展览会上展出,惠瑞捷展台号为921。

  惠瑞捷副总裁暨ASTS事业部总经理魏津博士表示:“V101首次让惠瑞捷成熟的测试技术专业知识惠及这一细分市场。这一成本敏感型市场要求测试方案以最低的测试成本提供最大的整体价值。有鉴于此,我们设计了一种自行安装、自行诊断和自行维护的系统。”

  V101测试系统拥有多达1024个输入/输出通道,数字时钟频率高达100 MHz,其性能保证可以经济高效地测试目前对成本最为敏感的集成电路和微控制器,尤其是广泛应用于低端移动通信和消费类产品。

  V101拥有独特的Tester-on-BoardTM架构,可直接在测试板上布置数字直流资源,从而简化了测试仪硬件和配置。该架构支持高效率的多站点测试,数据吞吐量高,同时可降低测试成本,而标准化组件使得V101易于安装和维护。

  魏津补充说:“V101是一个简单、经济、易用的系统,可为客户提供前所未有的价值。因此,尚未使用过惠瑞捷解决方案的客户也开始对我们的产品感兴趣,其中有需要测试多种芯片的客户,还有专注于成本敏感型MCU市场的测试厂和制造商。”

  Tester-on-Board架构

  V101架构是直接在测试板上布置数字直流资源,实现了高性能与低成本的完美结合。这种架构还支持客户根据自己的需求变化,轻松地扩大或降低V101的容量。

  优化低成本微控制器测试

  V101可经济高效地测试4/8/16位MCU和其他低管脚数低端IC芯片。该数字仪器卡拥有8个DPS(设备电源),数字时钟频率高达100 MHz,深度的矢量内存(60M)和捕捉内存(8 M)满足了芯片生命周期短以及改版快的要求,低噪音水平提高了精确度和产出。板载多功能直流测量单元避免了对单独模拟卡的需求,支持嵌入式A/D转换器的测试,从而降低了成本。

  优化晶圆测试

  V101是唯一为晶圆进行优化且支持直接探测的测试系统。利用该系统进行晶圆测试不需要单独的pogo tower或昂贵的附加接口,极大地降低了成本。V101增强了晶圆测试的信号保真度并简化了产品配置。

  易于使用的软件

  V101的操作系统软件使用了惠瑞捷成熟一流的StylusTM ,易学易用。Stylus支持直接EDA连接,缩短了程序开发时间。基于STIL的测试编程简化了其他基于STIL的测试程序转换,其与深度矢量和捕捉内存融合后可极大地缩短程序开发时间。

  广泛的应用

  V101可广泛地用于经济高效地测试各种最低成本的集成电路器件。

  * 4/8/16位MCU
  * 显示驱动控制器
  * 外围接口
  * 通用ASIC
  * 嵌入式内存
  * 嵌入式模拟至数字转换器


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晶圆测试? 集成电路? 微控制器? 惠瑞捷?

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