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香港科技园为华为完成芯片可靠性测试

2005年03月08日 ?? 收藏0
香港科技园公司宣布,该公司为华为技术有限公司提供的"芯片可靠性测试服务"已圆满完成。此前于2004年6月,香港科技园、香港微晶先进封装技术公司、深圳集成电路设计创业发展有限公司和华为技术有限公司,在香港签署了"芯片可靠性测试服务协议",这是深港两地集成电路业签署的首项企业服务协议。
  华为表示,该公司最新研发的一套通信类芯片急需进行全面的可靠性测试及分析,以保证按照进度量产。在双方合作期间,香港科技园公司为华为提供全面的可靠性测试技术支持及服务,并联同香港微晶先进封装技术公司、深圳集成电路设计创业发展公司各方人员,为华为提供芯片测试服务。该合作项目为华为提供芯片的高低温度循环试验和压力工作环境试验等一系列可靠性测试,以保证选用的芯片可满足通信设备高可靠性的要求。
  在这项工程服务上,香港科技园为华为提供的测试服务项目或设备具体包括:测试向量转换(Test pattern conversion)、安捷伦93K SoC测试平台、IMS Gemini虚拟测试平台、扫描音波显微镜 (Scanning Acoustic Microscope)、高低温度循环试验系统(Hot Air Ref

low System)、温湿循环测试(Temp & Humidity Test),及压力工作环境测试(Thermal Shock Test)。香港科技园称,因为该公司拥有不同设备以供随时应用,从而大大缩短了测试时间。


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可靠性? 测试? 香港科技园?

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