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R&S;全面支持数字I/Q接口测试

EDN China?? 2008年07月07日 ?? 收藏0

  R&S EX-IQ-Box数字信号接口模块使得罗德与施瓦茨公司的测试设备可以通过数字I/Q接口分析被测器件。配备了该模块的矢量信号源可以产生真实的数字基带信号,对收发信机或者其他被测件进行测试。同样该模块也使得信号分析仪可以对数字基带器件进行可靠的分析。在无线数据传输中,模拟接口逐渐被数字IQ接口替代。为了满足测试需求的这一改变,R&S公司现在提供一个高效的解决方案:R&S EX-IQ-Box接口模块,并且为R&S SMU200A、R&S SMJ100A和R&S AMU200A信号源或R&S FSQ、R&S FSG和R&S AMU200A信号分析仪增加一个新的选件。这意味着,由上述仪器提供的范围广泛的测试功能可以通过数字I/Q接口应用到器件测试中。用户可以在测试数字基带芯片、射频模块、基站和无线设备中使用统一的信号。依靠这样的测试策略,可以使得研发和生产正确进行。R&S EX-IQ-Box简化了比较分析,并且降低了一定数量的潜在错误来源。

  R&S SMU200A提供了很好的示例:当同时配备了新的R&S SMU-B18数字基带输出选件和R&S EX-IQ-Box,它可以对基带芯片进行包含噪声和衰落的真实数字基带信号的接收机测量。所有重要的标准,如LTE,HSPA和WIMAX都可以支持。R&S FSQ信号分析仪提供了另外一个实例:当配备新的R&S FSQ-B17数字基带接口选件,接收机可以通过R&S EX-IQ-Box对基带芯片进行可靠的发射机测试。

  R&S EX-IQ-Box作为标准设备的特色是:可以适应客户选择的数据速率、格式和逻辑电平。增加了一套转接板,使之与被测件连接非常容易,模块通过它所连接的信号源或分析仪来运行,而无须再外接电脑。


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数字信号? 基带?

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