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Data I/O向客户强调晶格容限检验的重要性

2007年11月19日 ?? 收藏0

  Data I/O公司(NASDAQ: DAIO)今天向其用户发表了一项声明,着重阐述了晶格容限验证对关键任务应用的重要性。

  晶格容限检验是专为某些系列的闪存微控制器芯片而设计的编程方法,包括NEC、Freescale、Infineon和德州仪器芯片。这些芯片主要用于汽车、医疗器械、工业和航空领域等关键任务的应用。晶格容限检验可保证芯片按要求进行编程,从而帮助制造商确保数据保持。

  晶格容限检验在Data I/O的编程平台上执行,以确保数据保持。每一块芯片编程完毕并完成晶格容限检验后,验证结果将被保存到Data I/O自动编程系统的日志文件中,客户可通过访问该日志文件以分析芯片故障的根本原因。

  “尽管闪存存储器技术已经十分可靠,但由于受到硬件和环境因素的影响,在芯片的数据保持能力方面编程质量仍然可能会有差别。”全球销售副总裁Harald Weigelt说。“在容限边缘编程的半导体芯片可能会使数据丢失或改变,从而导致意想不到的系统故障。一旦出现系统故障和产品召回,消费者将承担不必要的经济损失、风险和债务。大规模的召回会使公司蒙受数百万美元的损失,严重影响公司的盈利能力。为降低风险,Data I/O为支持该功能的微控制器实施晶格容限验证。”

  对于不支持晶格容限检验功能的存储器和微控制器,Data I/O的编程平台为每一块芯片提供了编程后验证工具。


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Data? 晶格? 容限? 检验?

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