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硅片上的光消除了偏振依赖性

Martin Rowe?? Test&Measurement; World资深技术编辑?? 2007年10月23日 ?? 收藏0

  MIT 研究人员最近宣布,他们可能发现了 IC 中偏振依赖问题的一种解决方法。在光缆中传输的光是随机偏振的,因而难以控制硅片中的光。通过消除这种依赖性,无需将光信号转换为电信号,IC 就可以进行处理。

  MIT 研究人员通过巧妙地控制光偏振解决了这个问题,从而使光的偏振与衬底表面平行。对于偏振状态与衬底表面平行的光,器件有很好的控制能力。

MIT的研究人员用这种方法测量一个与偏振无关IC的光输出功率


  这个过程包括分离信号的垂直横向磁场(TM)和水平横向电场(TE)偏振分量,每个偏振旋转 90。,两者通过同一装置送出,再将其他分量旋转 90。,然后组合成所有的偏振分量。该过程使 IC 消除了偏振误差。

  为了解研究人员如何测量该技术的有效性,我与研究人员 Peter Rakich进行了探讨。Rakich 解释说,经放大的可调谐激光器自发辐射限制了偏振状态的纯度,需要采取一些额外步骤来获得高保真的测量结果。

  信号先被调制在 5 kHz 上,然后再进入偏振控制器。第一个偏振控制器中有一个 Glan-Thompson 偏振器,用于清除光的偏振。另外它还作为一只方向偏振调谐器,能够通过计算机控制实现任何偏振状态的合成。第二个控制器将偏振映

像到相对于 IC 表面的 TM 和 TE 状态。

  为了验证该待测器件(DUT)与偏振无关,Rakich 采用了一种能生成 100 种已知偏振状态的电脑偏振控制器。器件后面接一个分光计和 InGaAs PIN 二极管,研究人员用它们过滤激光,并将其转换为电信号。

  研究人员证实了 DUT 的偏振独立性,因为对所有 100 种已知偏振状态其输出光功率几乎是相同的。如果器件有偏振依赖性,则功率测量会显示出相当大的差异。


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硅片? 偏振依赖? MIT?

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