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Wind River推出设备制造和测试专用片上调试解决方案

EDN China?? 2007年08月29日 ?? 收藏0

  风河系统公司日前宣布推出设备制造和测试专用片上调试解决方案——Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test。这一全新的标准化解决方案为从事设备制造和测试的工程师提供了设备制造中的硬件诊断能力,使设备制造公司能够进一步增强生产线吞吐能力、提高产品成品的验证和测试效率、降低产品报废和返工率,同时根据自身需求轻松地创建常规测试应用程序。此外,Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test将进一步补充和扩展设备制造公司已有的工具器件投资,例如边界扫描仪、逻辑分析仪、示波器等。

  与目前市场上现有的同类竞争产品不同,风河解决方案是唯一将业界领先的片上调试开发解决方案与专用测试制造工具完美融合,同时预集成了革命性的National Instruments (NI) LabVIEW平台开发环境的产品,而其他同类产品仅仅关注于设备硬件和软件的开发。Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test还特别集成了Wind River ICE与Wind River Probe仿真器产品、Wind River On-Chip Debugging API与Utility JTAG测试解决方案、以及NI LabVIEW Virtual Instrument Driver等。这一综合化解决方案将为设备制造公司带来以下受益:

  • 产品制造中的测试过程流水化,因为被测设备(device under test,DUT)无需处于全运转状态。

  • 通过目标CPU与内存子系统的分析和调测缩短产品制造中的调试过程。

  • 简化精准测试和自动系统的创建过程、减小测试/制造成本、加快产品制造周期。

  • 采用全自动测试,获取具备一致性、可预判的测试结果。

  National Instruments嵌入式系统商务总监Greg Crouch表示:“目前,随着嵌入式设备制造复杂度的提高,对于在现

有产品测试管理项目中融入片上测试技术的需求也在不断增长。其中的发展趋势之一就是需要融合闪存编程、片上软件测试以及对设备的功能性和错误排除的验证。许多设备制造商开始提出对超越传统边界扫描测试的附加测试能力的需求。Wind River片上测试技术通过集成LabVIEW的产品,进一步扩展了LabVIEW强大的测试管理能力和高级报告机制,从而使客户能够更快、更高效地将产品投放市场。”

  风河公司副总裁兼片上调试系统部门总经理Sandy Orlando认为:“风河公司充分意识到嵌入式设备开发中跨整个产品开发生命周期的不断增长的复杂度,包括产品的制造和测试。通过使用Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test,我们的客户将能够在更短的时间内完成更彻底的产品测试,从而提高产品制造能力,并且实现制造后期的产品错误检测和修正,降低产品报废率,减小制造成本。”

  Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test增强特性

  • 内存上载功能-内存上载功能(Memory Upload Utility)使开发人员能够根据目标选择特定的内存区域,并将数据提取成为单个文件,保存到主机PC的文件系统中。通过使用该功能,设备制造和测试工程师能够在他们的目标中加载和运行测试脚本,捕获特定内存区域中的数据结果,并将结果存入文件用于后续的参考和分析。

  • 支持增强型可视化仪表-通过建立“高级别”可视化仪表(VI),风河公司进一步增强了在On-Chip Debugging API中对National Instruments LabVIEW的集成。采用这些全新的VI,LabVIEW用户将能够更轻松地创建他们自身所需的常规测试应用。

  产品获取

  Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test已于近日发布。关于该解决方案和风河其他片上调试产品的更多信息,请访问http://www.windriver.com/products/OCD/


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Wind River? 片上调试? 嵌入式?

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