EDN China > 产品新闻 > 测试与测量 > 通用测试仪器 > 正文
? 2016博客大赛-不限主题,寻找电子导师,大奖升级??

科利登新型测试方案,满足用户更高数据速率需求

EDN China?? 2007年07月26日 ?? 收藏0

  科利登系统有限公司推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于测试新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。

  Sapphire D-6432DFT设备是首款用于高速串行总线的集成测试解决方案,在一次插入中结合了高速环路测试、抖动测量和注入信号,以及扫描/功能性测试和DC参数测量。D-6432DFT的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器件的总体成本并缩短上市时间。

  这一新设备是与领先的微处理器生产厂商AMD公司合作开发的。目前,AMD的工程师正采用Sapphire平台和D-6432DFT加速其最先进产品的测试和上市周期。在全球数以百计的Sapphire平台装机量中,已有200多个D-6432DFT设备安装在了屡获殊荣的Sapphire平台中,进行生产测试。

  AMD公司自动测试设备(ATE)技术经理兼高级技术工程师Pete Hodakievic表示:“市场对高速总线接口测试和快速数

据传输率提出了越来越高的要求,迫切需要一种比简易承载板环路测试技术更为强劲的测试方法。同时,我们又因为需要控制测试成本,而无法采用传统的测试设备和方法。采用Sapphire D-6432DFT,我们用单次插入即可完成对最先进的微处理器芯片进行高速环路测试、DC参数测试,以及扫描和功能测试。相比全功能测试,D-6432DFT不仅有更好的测试覆盖,还可以显著降低测试成本。”

  为了实现更高的数据速率, PCI Express I和II、HyperTransport 2.0和3.0、XAUI、XDR、RapidIO和InfiniBand等高速端口得到了越来越多的应用。然而,高速总线对传统“功能”测试方法的成本、复杂性和周期都提出了挑战。这些不确定因素在低速测试时能运作无误,但速度高于6 Gbps以上时,则有可能产生风险。目前的“近端”环路(即利用设备来输出测试数据,再回收数据至设备以进行识别)技术简单、性价比高,但难以有效地处理抖动、信号变异和协议性能,从而导致测试不完全或测试死角。集成电路制造商需要采用可测性设计方法,才能对那些影响设备和系统性能的关键变量进行灵活、全面的测试。


?? ?? ??


打开微信“扫一扫”,打开网页后点击屏幕右上角分享按钮

1.扫描左侧二维码
2.点击右上角的分享按钮
3.选择分享给朋友
?? ??

DFT? PCI? Express?

相关文章

我来评论
美国的游客
美国的游客 ??? (您将以游客身份发表,请登录 | 注册)
?
有问题请反馈