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安捷伦推出第一个在线非向量测试功能及测量技术

EDN China?? 2007年04月27日 ?? 收藏0

  安捷伦推出安捷伦Medalist VTEP v2.0,这是由非向量测试功能组成的套件,其中包括新的NPM测量技术。

  这一测试功能是在世界上第一次包括NPM测量技术。用户可以检测连接器上电源管脚和接地管脚中的开路,而许多业内人士曾一度认为这超出了现有测试能力的范围。

  随着信号在电路板上传输的速度越来越高,如在PCIe、DDR和SATA 连接器上,正确接地正变得日益关键。随着速度提高,接地针脚上的开路可能会导致信号集成的设计范围降低,误码率(BER)提高,放射电磁干扰(EMI)提高。

  安捷伦VTEP v2.0是为帮助制造商检测这些关键缺陷而设计的,功能测试和产品发售中可能检测不到这些缺陷,在后期可能会给制造商带来更高的成本。

  此外,通过VTEP v2.0,用户可以获原有得VTEP技术的优势,如更高的灵敏度,更有效地降低噪声;同时获得iVTEP的优势,该技术面向采用最小引线框或不带引线框的超小型集成电路封装。iVTEP还适用于带有散热片的设备及带有附加散热器的器件。

  安捷伦在线测试市场经理NK Chari说,“VTEP v2.0提供了非向量测试必须提供的最佳功能。”通过采用原有的VTEP技术作为核心,采用关键创新功能进行增强,如屡获大奖的iVTEP和新的NPM测量技术,VTEP v2.0使得用户可以更好地了解系统状况,弥补了以前在无矢量测量覆盖方面缺失的信息。

  Chari接着说,“我们希望制造商获得这种重要的创新技术,我们相信,这一技术将提供前所未有的全新的覆盖范围,正因如此,我们在所有新的Medalist i3070系统中免费提供VTEP v2.0。”

  安捷伦今天还为印刷电路板组件推出Medalist i3070在线测试系统。如需与Medalist i3070有关的更多信息,请参阅:www.agilent.com/about/newsroom/presrel/2007/20feb-em07014.html

  VTEP v2.0采用与原有VTEP相同的硬件,因此不要求进行硬件升级。

  如需更多信息,请访问:www.agilent.com/see/vtep。产品照片请访问:www.agilent.com/find/vtep_images


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