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新型WinCal XE软件支持更快速精确的晶圆级RF测量

EDN China?? 2007年03月07日 ?? 收藏0


??????? 具有复杂多端口RF架构的无线消费类电子设备的激增已促使工程师在他们晶圆级RF器件上进行更困难、更复杂的RF测量。为简化这一流程,Cascade Microtech 已扩展了其广受欢迎的WinCal校准软件的功能,包含了将提供更快速、更精确的晶圆级RF测量的关键功能。

???????? 晶圆测试市场中独一无二的WinCal XE将高级校准功能与RF高精度增强功能进行了完美结合。通过可将操作员错误降至最低且功能强大的新型测量支持工具及指导系统,WinCal XE可实现精确、可靠的RF测量,而解决了当今复杂半导体设计中存在的这一真正问题。

?????????WinCal XE 在市场上首要的校准软件套件中增添了新功能XE 版本的主要新功能包括:

???????? 用于多端口测量的混合校准:最多可对四个端口自动进行多端口混合校准
用于实验室测量验证及数据分析的本地数据处理:与其它校准软件不同,现在您能够获得高级本地数据分析功能,通过该功能可在数据导出前及早检测出可疑数据。

???????? 器件特性描述工具-众多支持器件特性描述的强大测量工具可供选择

???????? 可实现四端口校准的独特混合校准功能

???????? 越来越常见的RF测量挑战的主要特点是需要四个测量端口的差动架构。目前市场上提供的高级两端口校准方法能够高度容忍晶圆探测中经常遇到的探针放置不确定性,但迄今为止尚未提供可实现四端口测量的高级校准方法。更复杂的是,四端口系统设置与校准所需的步骤远多于两端口系统校准,因此出错的机率会更高。

???????? WinCal XE率先提供了独一无二的新型高级混合校准算法。这种混合校准确保了可实现四端口差动测量的高精度“探测容忍”校准。通过提供简洁明了的多端口设置指南、多端口校准标准与向量网络分析仪(VNA)端口管理及四端口自动校准与验证,WinCal XE还简化了四端口测量。

???????? WinCal XE提供了其它任何商业产品中所没有的以下高级校准功能:

???????? eLRRM cal,可提高例行校准的精度

???????? 混合四端口校准,包括可测量四端口精度的 SOLT-eLRRM及SOLT-SOLR多线路TRL,可将您的首选校准方法与NIST形式的参考校准进行比较

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