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NI推出基于PXI的LVDS数字波形发生器/分析仪

EDN China?? 2005年03月15日 ?? 收藏0
  自动化测试工程师现在可以使用NI全新的400和200 Mb/s数字波形发生器/分析仪来同PXI平台上低电压差分信号设备(low-voltage differential signaling,LVDS)进行交互。这个全新的模块是军事和航间技术领域(例如监视、空间通讯、卫星技术和人工智能)的ATE测试、测量应用的理想之选。工程师们同时也可以在通讯子系统以及一些类似A/D 或 D/A转换半导体设备中使用该模块。
  由于具有高速数据采集率和低耗能的特性,LVDS在自动化测试系统开发者当中正在迅速建立良好的声誉。又因为LVDS的差分特性,所以它可以提供高抗干扰性和共模抑制,也使得它在保证高信号完整性的同时使用了低电压波动。这种低电压波动能够保证最小的能量损耗,并为在高速率的情况下(达到几百Mb/s)实现高速数据采集提供了可能性。通过使用LVDS,工程师们现在可以在低能量、长距离的条件下高速传输数据,而这在使用其它的单端口或者差分技术的情况下是无法实现的。
  NI PXI-6562以及NI PXI-6561 LVDS数字波形发生器/分析仪分别提供了200和100 MHz时钟频率、200 和 100 Mb/s的数据采集率(单数据率情况下),以及200 和 400 Mb/s的数据采集率(双数据率情况下)。该模块提供了16个LVDS通道,并且在单一数据率模式下对每条通道的数据采集或者发生进行自定义方向控制,并且每条通道可以使用128Mb的内存空间。
  由于该模块是建立在通用的同步和存储核心(Synchronization and Memory Core,SMC)构架上,它们能够和其他基于SMC的模块化仪器(例如最近发布的200 MS/s PXI数字化仪和任意波形发生器)实现紧密的同步。工程师们也可以使用多个LVDS 模块在SMC同步技术之上,来建立多通道的计数系统。为能实现使用该模块快速搭建相应的测试应用,工程师们可以通过使用2个强大的软件工具(NI的 LabVIEW 7.1图形化开发环境中的 Express VI、以及NI的数字化波形编辑器 )来建立和编辑测试向量。


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数字化仪?

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