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第二届“中国PXI技术和应用论坛”在深圳成功举办

2005年07月15日 ?? 收藏0
美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)宣布成功主办第二届“中国PXI技术和应用论坛” (PXI Technology & Application Conference,即PXI TAC 2005),本届活动于2005年7月7日在深圳举办,深圳站共吸引了近400位相关领域的工程师和技术人员到场参加。此外,值得一提的是PXI TAC是由NI主办、大中国地区规模最大的多供应商PXI活动,共有十家PXI行业内的企业“同台献艺”,携手展示和推广PXI技术和产品。


中国PXI技术和应用论坛


  图为来自NI美国总部的全球市场及客户运营高级副总裁John Graff先生正在发表精彩的主题演讲,其他的演讲者包括:NI全球模块化产品、PXI及仪器控制部门产品市场总监Eric Starkloff先生和Chroma(致茂电子股份有限公司)PXI系统事业部总经理庄嘉明先生。

  今年活动的主旨是:PXI——引领自动化测试技术的潮流。活动同期共举行了十场仪器/自动化和测试应用专题的技术研讨会,从现场观众的反馈和参与厂商的交流来看,PXI技术正在被越来越多的测试测量工程师所接受和认可,PXI业已成为测试测量行业的主流技术趋势。

  会议现场的调查,高达90%的观众将把PXI作为他们今后的首选测试测量平台,71.3%表示他们有意向参加、并会向同事推荐明年的活动。参与此次活动的来宾也纷纷表示:“论坛有实例有产品,理论和实际相结合,让我能更深入地了解PXI技术的前沿知识,以及其操作的便利性。”

  基于两届活动的成功经验,NI会在明年继续举办第三届“中国PXI技术和应用论坛”,并有信心将其打造成大中国地区PXI行业内首屈一指的多供应商技术论坛。
  


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