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(多图) 边界扫描SRAM簇板级互连测试研究

来源:中电网 / 作者:李桂祥?? 刘明云?? 杨江平?? 项建涛?? 2005年12月30日 ?? 收藏0


?????? ● 测试条件?
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测试条件公式


?????? ii) (RD,A1,DR,[D1]),若地址线i为v占优与地址线 j桥接,则DR≠D1。

?????? ● 禁止条件

?????? i)和ii)之间不允许(WR,A1,D1),其中D=X

?????? ②数据线j电平占优,数据线 j与地址线i之间的桥接故障的检测?
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测试条件数据线j电平占优数据线j与地址线i之间的桥接故障的检测


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bsp;?? ● 禁止条件 a) (WR,A1,D)无可满足测试条件i)和iii),其中D=X; b) (WR,A2,D1)无可满足测试条件i)和iii)。

?????? 2.2.3 控制信号线

?????? 控制信号线上的故障包括控制信号的呆滞(开路)故障以及控制信号线和地址线或数据线的成对桥接故障。控制信号除OE和CE为S-A-0不影响SRAM的正常读写操作而无法检测故障外,控制信号线上的其余故障都将导致从SRAM读出的数据是任意的,或者在整个测试过程中只读出一个数据。这种故障检测比较容易,但不易确定其原因。

?????? 按照上述故障模式分类,并赋予相应的测试条件后,除控制信号CE和OE上的S-A-0的故障不能检测外,在数据线和地址线上的任何故障都能被检测。

?????? 2.3 测试算法的设计

?????? 由于SRAM一般都有很规则的结构,再考虑到在地址线和数据线上同时存在故障的测试条件,我们提出一种在SRAM簇的互连测试中易于产生的测试序列。假设SRAM的地址线和数据线的宽度分别为m和n,p、q分别代表 m和n的较大者和较小者。用0(1)表示全0(1)向量;=[h1 ,…,hW]表示一个宽度为w的one-hot vector,(hk=1,hi =0, ≠ k), 与互补。于是我们用下面的算法程序描述测试序列的生成和故障检测过程:

算法程序描述测试序列的生成和故障检测过程

?????? 通过对此程序产生的测试序列去验证上述故障分类下的测试条件和禁止条件可以看出,此算法能够检测有 m位地址线和n位数据线的SRAM簇的所有可检测互连故障。而且这些测试序列也很容易由测试程序来产生。地址和数据可分别由一个m阶和 n阶的OHC来产生。OHC的输出端Q/Q提供所需的one-hot/cold 向量。

?????? 3 实验结果

?????? 下面以一个具有四位地址线和四位数据线的 SRAM为例,简单介绍测试地址线呆滞、桥接故障的过程。按照以上的测试条件与禁止条件,测试生成的过程可描述为:首先,在地址全"0"处写数据全"1",在地址全"1"处写数据全 "0",在地址走步"1"处写数据走步"0",在地址走步"0"处写数据走步"1";然后通过边界扫描链路得到响应矩阵;通过响应矩阵计算出故障矩阵,故障矩阵中"1"表示有故障,"0" 表示无故障。

?????? "如表所示,若地址线A2固定为0,则在地址全"0"处所读出数据被地址"0100"处所写数据覆盖,在地址全"1"处所读出数据被地址 "1011"处所写数据覆盖,其故障矩阵只有F2 的地址全"0"和地址全"1"行对应数据为1。由此,可判断故障为地址线A 2固定为0。


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SRAM? 边界扫描? 测试?

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