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(多图) 边界扫描SRAM簇板级互连测试研究

来源:中电网 / 作者:李桂祥?? 刘明云?? 杨江平?? 项建涛?? 2005年12月30日 ?? 收藏0


SRAM簇测试时实现一个SRAM的读


?????? 存储器读写信号都由写使能WE控制,WE为高电平时进行读操作,为低电平时进行写操作。同时规定地址信号、OE信号与WE信号不得同时改变。如图2所示,t1、t2和t3为一个读周期,t4、 t5和t6为一个写周期。

?????? SRAM的读写操作的测试图形序列如表1所表示。表中DR表示从SRAM中读取的数据值,A和D分别表示所写数据单元的地址向量和所写数据向量,X表示任意值。本文正是按照一定的测试算法来产生SRAM簇的互连测试的测试图形。这些测试图形不仅能满足下面所描述的故障测试条件,而且能满足故障覆盖和避免多驱动冲突。

SRAM的读写操作的测试图形序列


?????? 2.2 故障模式和测试条件

?????? SRAM簇的互连故障有呆滞故障、开路故障以及在地址线、数据线和控制线间的桥接故障。SRAM簇的互连故障检测的基理是将一组测试向量

的序列首先写入SRAM,读出SRAM簇的响应序列,通过分析得到互连网络上的故障行为。下面讨论是按单一故障模式分别进行,且开路故障为呆滞故障S-A-1 或S-A-0,桥接故障为"线与"或"线或"。四元组(RD,A,DR,[DE])代表对地址A的一个读操作,读取的数据值为DR,期望数据是 [DE];一个三元组(WR,A,D)代表了一个写操作,即在地址 写入数据。 和代表包含多位的向量,Ti ,j代表 的第j位。

?????? 2.2.1 地址线

?????? (1)地址线i呆滞为v(开路)的故障测试

地址线i呆滞为v的故障测试公式

?????? iii),(RD,A1,DR,[D1])若地址线i呆滞为v,则DR≠D1。

?????? 禁止条件

?????? a) 在i)和iii)之间不允许有其他(WR,A1,D),其中D=X;

?????? b) 在ii)和iii)之间不允许有(WR,A2,D1 )

在ii和iii之间不允许有WRA2D1公式

在ii和iii之间不允许有WRA2D1公式2

禁止条件公式

?????? 容易验证,走步"1"或"0"序列能满足以上地址线的呆滞和桥接故障的测试条件。

?????? 2.2.2 数据线

?????? (1)数据线i的呆滞为v (开路)故障的测试
??????
?????? ● 测试条件 ?

?????? ii) (RD,A1,DR,[D1]),若数据线i呆滞为v ,则DR≠D1。

?????? ● 禁止条件

?????? i)和ii)之间不允许(WR,A,D),其中D=X。

?????? (2)数据线i与数据线j 的桥接故障的测试

?????? ● 数据线i与数据线j 的桥接故障的测试1

数据线i与数据线j 的桥接故障的测试2


?????? ii) (RD,A1,DR,[D1]),若数据线i与数据线j桥接,则DR≠D1。

?????? ● 禁止条件 在i)和ii)之间不允许(WR,A,D1),其中D=X。 同样容易验证,在数据线上使用计数序列和走步"1"或"0"序列同样能够满足以上数据线呆滞和桥接故障的测试条件。
?????? (3)地址线i和数据线j 之间的桥接桥接故障 数据线和地址线之间的桥接故障的测试较为复杂。我们同样假设数据线和地址线之间的桥接为"线与"或者为"线或"。这时只要保证两桥接线上的测试图形互补,再通过读出数据判断故障。用走步"1"序列测试"线或"桥接,用走步 "0"序列测试"线与"桥接故障,连续使用这两种序列即可满足故障覆盖。 ①地址线i电平占优,地址线 i与数据线j之间的桥接故障测试。


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SRAM? 边界扫描? 测试?

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